[发明专利]一种检测探头及电压测量装置有效

专利信息
申请号: 201310065406.3 申请日: 2013-03-01
公开(公告)号: CN103176001A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 李红益 申请(专利权)人: 苏州工业园区职业技术学院
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 代理人: 刘述生
地址: 215123 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 探头 电压 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种检测探头及电压测量装置。

背景技术

测量设备上通常会设有检测探头,一般的检测探头的探针与探头盖之间、探头盖与探头筒体之间均容易发生相对移动,容易影响检测探头的内部电路与探针之间的电性连接关系,从而影响测量结果的精确度,且降低了检测探头的使用寿命。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种检测探头,能够防止探针与探头盖之间、探头盖与探头筒体之间相对移动,延长使用寿命。

为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:提供一种检测探头,与护线套配合使用,所述检测探头包括探针、探头盖和探头筒体,所述探头盖由平面部分和环形部分组成,所述探头盖的环形部分套住探头筒体的一端并与探头筒体固定连接,所述探头盖的平面部分中心设有第一通孔,所述探针穿过第一通孔并与探头盖固定连接,所述探头盖的平面部分进一步设有第二通孔,所述探头盖的环形部分上设有第三通孔,所述探头筒体正对第三通孔的部位设有第四通孔,所述检测探头进一步包括第一固定块和第二固定块,所述第一固定块穿过第二通孔,所述第二固定块穿过第三通孔和第四通孔。

在本发明一个较佳实施例中,所述第三通孔的横截面大小与第四通孔的横截面大小相同。

在本发明一个较佳实施例中,所述第一固定块为第一铆钉,所述第一铆钉与探针通过锡焊接。

在本发明一个较佳实施例中,所述第二固定块为第二铆钉,所述探头盖和探头筒体通过第二铆钉铆接。

在本发明一个较佳实施例中,所述第二固定块为螺钉,所述螺钉表面设有外螺纹,第三通孔和第四通孔的内壁上均设有与外螺纹相匹配的内螺纹,所述探头盖和探头筒体通过螺钉固定连接。

在本发明一个较佳实施例中,所述探头筒体远离探头盖的一端与护线套固定连接。

在本发明一个较佳实施例中,所述护线套为软制护线套。

本发明还提供一种电压测量装置,包括所述检测探头。

本发明的有益效果是:所述第一固定块能够防止探针与探头盖之间相对移动,所述第二固定块能够防止探头盖与探头筒体之间相对移动,不会影响探针与内部电路之间的连接关系,不仅提高了测量结果的精确度,而且延长了使用寿命。

附图说明

图1是本发明检测探头一较佳实施例的结构示意图。

附图中各部件的标记如下:1、探针;2、探头盖;201、探头盖的平面部分;202、探头盖的环形部分;3、探头筒体;4、第一固定块;5、第二固定块。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

请参阅图1,本发明实施例包括:

一种检测探头,与护线套配合使用,所述检测探头包括探针1、探头盖2、探头筒体3、第一固定块4和第二固定块5,所述探头盖2由平面部分201和环形部分202组成。

所述探头盖的平面部分201设有第一通孔和第二通孔,第一通孔位于探头盖的平面部分201的中心,第二通孔临近第一通孔。所述探头盖的环形部分202套住探头筒体3的一端并与探头筒体3固定连接,所述探头盖的环形部分202上设有第三通孔。所述探头筒体3正对第三通孔的部位设有第四通孔,所述第三通孔的横截面大小与第四通孔的横截面大小相同。所述探头筒体3远离探头盖2的一端与护线套固定连接,所述护线套为软制护线套。

所述探针1穿过第一通孔并与探头盖2固定连接,所述第一固定块4穿过第二通孔,在本实施例中,所述第一固定块4为第一铆钉,所述第一铆钉与探针1通过锡焊接。所述第二固定块5穿过第三通孔和第四通孔。

优选地,所述第二固定块5为第二铆钉,所述探头盖2和探头筒体3通过第二铆钉铆接。

优选地,所述第二固定块5还可以为螺钉,所述螺钉表面设有外螺纹,第三通孔和第四通孔的内壁上均设有与外螺纹相匹配的内螺纹,所述探头盖2和探头筒体3通过螺钉固定连接。

可以理解为,所述第一固定块4不限于采用第一铆钉,所述第二固定块5也不限于采用第二铆钉或螺钉,所述第一固定块4和第二固定块5还能采用其它能够起到连接作用的固定件。

本实施例还包括一种电压测量装置,包括所述检测探头。

与现有的检测探头相比,本发明所述第一固定块4能够防止探针1与探头盖2之间相对移动,所述第二固定块5能够防止探头盖2与探头筒体3之间相对移动,不会影响探针1与内部电路之间的连接关系,不仅提高了测量结果的精确度,而且延长了使用寿命。

以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

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