[发明专利]量测控制系统及方法无效

专利信息
申请号: 201310066285.4 申请日: 2013-02-28
公开(公告)号: CN104020781A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 张旨光;蒋理;袁忠奎;吴伟文;薛晓光;刘建华 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G05D3/12 分类号: G05D3/12;G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测控 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种量测控制方法,应用于计算装置,该计算装置与影像量测机台及控制器电连接,控制器与安装在影像量测机台Z轴上的传感器电连接,待测产品放置于量测平台,其特征在于,该方法包括:

参数设置步骤:接收用户输入的待测产品上的测量点在机械坐标系中的坐标信息,并设置传感器量测光谱信号的强度阀值;

驱动步骤:根据测量点在机械坐标系中的坐标信息发送驱动指令至影像量测机台,以驱动传感器移动至测量点上方;

接收步骤:接收控制器分析待测产品反射回的光谱信号得到的光谱信号数据;

计算步骤:根据光谱信号数据计算传感器的有效量测范围;

绘制步骤:根据接收到的光谱信号数据实时绘制光谱信号强度分布图;

判断步骤:根据光谱信号强度分布图中的波形峰值是否低于所述阀值判断所述测量点是否位于传感器的有效量测范围之内;及

控制步骤:若光谱信号强度分布图中的波形峰值低于所述阀值,则发送控制指令至影像量测机台以调整传感器在Z轴的位置,直至光谱信号强度分布图中的波形峰值等于或高于所述阀值。

2.如权利要求1所述的量测控制方法,其特征在于,该方法还包括步骤:根据传感器在影像量测机台Z轴上移动过程中信号强度分布图中的波形峰值的变化确定传感器在Z轴上的最佳位置。

3.如权利要求2所述的量测控制方法,其特征在于,当传感器在影像量测机台Z轴上移动到该最佳位置时,波形峰值超出所述阀值且达到一个最大值,当传感器在影像量测机台Z轴上继续向下移动,波形峰值又从最大值开始逐渐减小。

4.如权利要求1所述的量测控制方法,其特征在于,所述光谱信号数据包括光谱信号的波长及每种光谱信号的信号强度值,所述传感器的有效量测范围=光谱信号的最大波长-光谱信号的最小波长所构成的波长范围。

5.如权利要求1所述的量测控制方法,其特征在于,该方法在接收步骤前还包括步骤:所述控制器发射一束多色光并传输至传感器,传感器进行光谱色散后产生不同波长的光谱信号并发射至待测产品,待测产品反射回光谱信号至传感器,传感器将反射回的光谱信号传输至控制器。

6.一种量测控制系统,应用于计算装置,该计算装置与影像量测机台及控制器电连接,控制器与安装在影像量测机台Z轴上的传感器电连接,待测产品放置于量测平台,其特征在于,该系统包括:

设置模块,用于接收用户输入的待测产品上的测量点在机械坐标系中的坐标信息,并设置传感器量测光谱信号的强度阀值;

驱动模块,用于根据测量点在机械坐标系中的坐标信息发送驱动指令至影像量测机台,以驱动传感器移动至测量点上方;

计算模块,用于根据控制器传输的光谱信号数据计算传感器的有效量测范围,该光谱信号数据是由控制器分析传感器传输的从待测产品发射回的光谱信号后得到的;

绘制模块,用于根据接收到的光谱信号数据实时绘制光谱信号强度分布图;

判断模块,用于根据光谱信号强度分布图中的波形峰值是否低于所述阀值判断所述测量点是否位于传感器的有效量测范围之内;及

控制模块,用于当光谱信号强度分布图中的波形峰值低于所述阀值时,发送控制指令至影像量测机台以调整传感器在Z轴的位置,直至光谱信号强度分布图中的波形峰值等于或高于所述阀值。

7.如权利要求6所述的量测控制系统,其特征在于,所述判断模块,还用于根据传感器在影像量测机台Z轴上移动过程中信号强度分布图中的波形峰值的变化确定传感器在Z轴上的最佳位置。

8.如权利要求7所述的量测控制系统,其特征在于,当传感器在影像量测机台Z轴上移动到该最佳位置时,波形峰值超出所述阀值且达到一个最大值,当传感器在影像量测机台Z轴上继续向下移动,波形峰值又从最大值开始逐渐减小。

9.如权利要求6所述的量测控制系统,其特征在于,所述光谱信号数据包括光谱信号的波长及每种光谱信号的信号强度值。

10.如权利要求6所述的量测控制系统,其特征在于,所述传感器的有效量测范围=光谱信号的最大波长-光谱信号的最小波长所构成的波长范围。

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