[发明专利]低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统在审
申请号: | 201310068709.0 | 申请日: | 2013-02-25 |
公开(公告)号: | CN104007334A | 公开(公告)日: | 2014-08-27 |
发明(设计)人: | 张博钧;杨子安;曹珺飞;张运转;马守健 | 申请(专利权)人: | 深圳电信研究院 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 低频 高频 同时 测试 电磁 骚扰 系统 | ||
【权利要求书】:
1.低频和高频同时测试电磁骚扰测试系统,包括暗室,其特征在于:还包括低频测试系统和高频测试系统;低频测试系统包括依次连接的低频测量天线、低频射频切换开关、低频预放、滤波器组、接收机和第一控制计算机;高频测试系统包括依次连接的高频测量天线、高频射频切换开关、高频预放、高通滤波器、频谱仪和第二控制计算机;其中,低频测量天线和高频测量天线安装在暗室内。
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