[发明专利]阵列面板检测电路结构

权利要求书

1.一种阵列面板检测电路结构，其包括纵向设置的第一栅极信号引线、第二栅极信号引线；横向设置并用于检测所述第一栅极信号引线的第一短接棒、横向设置并用于检测所述第二栅极信号引线的第二短接棒，且所述第二短接棒设置在第一短接棒的上方；用于将所述第一栅极信号引线连接到所述第一短接棒的第一检测连接片；用于将所述第二栅极信号引线连接到第二短接棒的第二检测连接片，其特征在于，所述第一栅极信号引线与第二栅极信号引线设置在所述第一短接棒的下方且与所述第一短接棒间设有间隔；所述第一检测连接片的一端与所述第一栅极信号引线的一端连接，另一端与所述第一短接棒连接；所述第二检测连接片的一端与所述第二栅极信号引线连接，另一端跨接到所述第二短接棒。

2.根据权利要求1所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述第一检测连接片和第二检测连接片为氧化铟锡片。

3.根据权利要求1所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述第二检测连接片的另一端跨过所述第一短接棒与所述第二短接棒连接。

4.根据权利要求1所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述第一检测连接片和第二检测连接片上设置有用于将所述第一检测连接片和第二检测连接片连接到所述短接棒或栅极信号引线的过孔。

5.根据权利要求4所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述过孔与所述短接棒的连接处、所述过孔与所述信号引线的连接处设置有用于减少静电流过的钝化层。

6.根据权利要求2或4所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述信号引线从栅极引出，使用的材质为与源漏极相同的金属。

7.一种阵列面板检测电路结构，其包括纵向设置的第一信号引线、第二信号引线和第三信号引线；还包括横向设置并分别对应检测所述第一信号引线、第二信号引线和第三信号引线的第一短接棒、第二短接棒和第三短接棒，所述第二短接棒设置在第一短接棒的上方，所述第三短接棒设置在所述第二短接棒的上方；还包括将所述第一信号引线、第二信号引线和第三信号引线分别对应连接到所述第一短接棒、第二短接棒和第三短接棒的第一检测连接片、第二检测连接片和第三检测连接片；其特征在于，所述第一信号引线、第二信号引线和第三信号引线设置在所述第一短接棒的下方且与所述第一短接棒间设有间隔；所述第一检测连接片的一端与所述第一信号引线连接，另一端与所述第一短接棒连接；所述第二检测连接片的一端与所述第二信号引线连接，另一端跨接到所述第二短接棒；所述第三检测连接片的一端与所述第三信号引线连接，另一端跨接到所述第三短接棒。

8.根据权利要求7所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述第一检测连接片、第二检测连接片和第三检测连接片为氧化铟锡片。

9.根据权利要求7所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述第二检测连接片的另一端跨过所述第一短接棒与所述第二短接棒连接，所述第三检测连接片的另一端跨过所述第一短接棒和第二短接棒与所述第三短接棒连接。

10.根据权利要求7所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述第一检测连接片、第二检测连接片和第三检测连接片上设置有用于将所述第一检测连接片、第二检测连接片和第三检测连接片连接到短接棒或信号引线的过孔。

11.根据权利要求10所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述过孔与所述短接棒的连接处、所述过孔与所述信号引线的连接处设置有用于减少静电流过的钝化层。

12.根据权利要求8或10所述的阵列面板检测电路结构，其特征在于，所述信号引线从源漏极引出，使用的材质为与源漏极相同的金属。