[发明专利]检测装置、电力接收装置和电力发送装置有效
申请号: | 201310071406.4 | 申请日: | 2013-03-06 |
公开(公告)号: | CN103308949B | 公开(公告)日: | 2017-09-08 |
发明(设计)人: | 宫本宗 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G01V3/00 | 分类号: | G01V3/00;H02J50/10 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 余刚,吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 电力 接收 发送 | ||
1.一种检测装置,包括:
一个或多个磁性耦合元件,所述一个或多个磁性耦合元件包括多个线圈;
定位单元,配置在所述一个或多个磁性耦合元件中包括的所述多个线圈中的至少一个线圈附近;
检测器,测量涉及所述一个或多个磁性耦合元件或涉及至少包括所述一个或多个磁性耦合元件的电路的电气参数,并且根据所述电气参数的变化来判定是否存在由于磁通量而发热的异物;以及
磁性屏蔽材料,减少向外的磁通量泄漏并且能够维持所述一个或多个磁性耦合元件和所述定位单元之间的位置关系;并且
其中,所述定位单元的至少一部分是磁性材料。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其中,
所述电气参数是所述一个或多个磁性耦合元件或至少包括所述一个或多个磁性耦合元件的电路的Q值。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其中,
所述定位单元配置在所述一个或多个磁性耦合元件中包括的所述多个线圈中的至少一个线圈的内侧。
4.根据权利要求1所述的检测装置,还包括:
非接触电力提供线圈,用于非接触电力提供,
其中,所述一个或多个磁性耦合元件和所述非接触电力提供线圈由所述定位单元定位在所述磁性屏蔽材料上。
5.根据权利要求1所述的检测装置,其中,
对于由磁性材料制成并且设置在在所述一个或多个磁性耦合元件中包括的所述多个线圈中的至少两个或更多的线圈附近的定位单元,使在各个定位单元中的所述磁性材料的磁导率的实部、所述磁导率的虚部、X、Y和Z方向上的最外尺寸、所述X、Y和Z方向上的配设位置和配置的定位单元的数量中的至少一个在所述定位单元之间不同。
6.根据权利要求1所述的检测装置,其中,
在所述磁性材料中,磁导率的实部的值大于所述磁导率的虚部的值。
7.根据权利要求5所述的检测装置,其中,
所述定位单元的磁性材料的最外尺寸小于在所述一个或多个磁性耦合元件中包括的所述多个线圈中的至少一个或更多的线圈的最外尺寸。
8.根据权利要求7所述的检测装置,其中,
所述定位单元的磁性材料的最外尺寸小于在所述一个或多个磁性耦合元件中包括的所述多个线圈中的至少一个或更多的线圈的最内尺寸。
9.根据权利要求1所述的检测装置,其中,
在所述一个或多个磁性耦合元件中,电连接所述多个线圈使得从所述多个线圈中的至少一个或更多的线圈产生的磁通量和从所述多个线圈中的剩下的线圈产生的磁通量具有相反的方向。
10.根据权利要求1所述的检测装置,其中,
在所述一个或多个磁性耦合元件中包括的所述多个线圈被构造为通过使用串联连接、并联连接或组合的串联和并联连接来电连接。
11.根据权利要求1所述的检测装置,其中,
所述至少包括所述一个或多个磁性耦合元件的电路是谐振电路。
12.根据权利要求1所述的检测装置,其中,
在所述一个或多个磁性耦合元件中的至少一个磁性耦合元件中包括的所述多个线圈被配置为8字形、田字形或格子形。
13.一种非接触电力接收装置,包括:
一个或多个磁性耦合元件,所述一个或多个磁性耦合元件包括多个线圈;
定位单元,配置在所述一个或多个磁性耦合元件中包括的所述多个线圈中的至少一个线圈附近;
检测器,测量涉及所述一个或多个磁性耦合元件或涉及至少包括所述一个或多个磁性耦合元件的电路的电气参数,并且根据所述电气参数的变化判定是否存在由于磁通量而发热的异物;以及
磁性屏蔽材料,减少向外的磁通量泄漏并且能够维持所述一个或多个磁性耦合元件和所述定位单元之间的位置关系;并且
其中,所述定位单元的至少一部分是磁性材料。
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