[发明专利]液晶显示处理方法、装置及液晶显示器

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示处理方法、装置及液晶显示器。

背景技术

液晶模组一般包含玻璃基板、光源、导光板/扩散板、膜片组（反射片、扩散片、增亮片等），以及前框、中框、背板等结构件。液晶模组的背光技术，目前按光源的位置可划分为侧入式和直下式两种，其中，侧入式背光模组的光源排布在导光板的入光面侧，沿着整条入光面均匀排布。导光板的作用在于引导和改变光线的传输方向，经过网点破坏全反射，配合反射片，把点或线光源转化为面光源，再经过扩散片和其他膜片的作用，进一步提高面光源的亮度与均匀度，使光均匀分布于液晶显示区域内。直下式背光模组则利用通电后的灯源，经过底面反射罩反射，使灯源所发出的光向上直射，经过扩散板的扩散作用将光线散射雾化，使光线均匀分布于背光模组的表面。

目前，伴随着液晶显示器的窄边框及超薄化设计趋势，液晶电视的画质品位较难保持高水准，灯影（hot spot）、亮暗不均（mura）等显示缺陷逐渐增多。

例如，在侧入式LED背光显示中，A/P比是个重要设计指标（A指视区（Active area）到LED出光面距离；P（pitch）指灯条上相邻LED的间距），边框越窄，A值减小，当A/P<0.8时，LCD入光侧出现灯影的概率极高。

而在直下式背光显示中，随着大、中功率LED的广泛应用，即便采用二次透镜，在混光距离极小（如15mm）时，整个画质品位将会变差，出现灯影概率升高。

为了解决上述问题，现有的解决方案有：对于侧入式背光，采用特殊形式灯条，在导光板入光侧做微结构或膜片丝印等；对于直下式背光，采用扩散板网点印刷技术或增加灯数来解决画质品位问题。这些方法实际应用推广较难，而且增加了成本。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种液晶显示处理方法、装置及液晶显示器，旨在提升液晶显示器的整体画质品位，降低成本。

为了达到上述目的，本发明提出一种液晶显示处理方法，包括：

获取液晶显示区域中背光显示的异常区域；

修正所述异常区域内每一像素点的数据线输入电压；

当需要通电显示时，控制所述异常区域内像素点的数据线输入电压为对应的修正后的输入电压，以控制该像素点液晶偏转角度，使所述像素点以预定亮度显示。

优选地，所述获取液晶显示区域中背光显示的异常区域的步骤包括：

运用光学测试仪器测量得出所述液晶显示区域的原背光光场分布；应用光线追踪模拟方式耦合得出所述液晶显示区域实际的背光光场分布；

对比分析所述原背光光场分布和背光光场分布，得出所述液晶显示区域中背光显示的异常区域。

优选地，所述修正异常区域内每一像素点的数据线输入电压的步骤包括：

获取所述异常区域内对应像素点的亮度值；

将所述对应像素点的亮度值与其相邻的正常像素点的亮度值进行比较；

根据比较结果调整所述对应像素点的数据线输入电压。

优选地，所述调整对应像素点的数据线输入电压的方式至少采用线性收敛方式。

本发明还提出一种液晶显示处理装置，包括：

获取模块，用于获取液晶显示区域中背光显示的异常区域；

修正模块，用于修正所述异常区域内每一像素点的数据线输入电压；

控制模块，用于当需要通电显示时，控制所述异常区域内像素点的数据线输入电压为对应的修正后的输入电压，以控制该像素点液晶偏转角度，使所述像素点以预定亮度显示。

优选地，所述获取模块包括：

测量单元，用于运用光学测试仪器测量得出所述液晶显示区域的原背光光场分布；应用光线追踪模拟方式耦合得出所述液晶显示区域实际的背光光场分布；

对比分析单元，用于对比分析所述原背光光场分布和背光光场分布，得出所述液晶显示区域中背光显示的异常区域。

优选地，所述修正模块包括：

获取单元，用于获取所述异常区域内对应像素点的亮度值；

比较单元，用于将所述对应像素点的亮度值与其相邻的正常像素点的亮度值进行比较；

调整单元，用于根据比较结果调整所述对应像素点的数据线输入电压。

优选地，所述调整对应像素点的数据线输入电压的方式至少采用线性收敛方式。

优选地，所述控制模块集成在液晶显示器的T-con或机芯上。

本发明还提出一种液晶显示器，包括如上所述的装置。