[发明专利]半导体集成电路无效
申请号: | 201310073928.8 | 申请日: | 2013-03-08 |
公开(公告)号: | CN103368549A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 宫泽雅文;野田匡哉 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H03K17/687 | 分类号: | H03K17/687 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈萍 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 集成电路 | ||
1.一种半导体集成电路,其特征在于,具备:
第1晶体管,对使第1节点和第2节点电导通或切断进行切换;及
开关控制电路,在上述第1晶体管关断的状态下,上述第1节点及上述第2节点之中的至少一方的电位比电源电位高规定电位以上的情况下,将上述第1晶体管的基板电位设定为上述第1节点及上述第2节点的电位之中高的电位。
2.根据权利要求1所记载的半导体集成电路,其中,
还具备反相器,该反相器生成使从外部输入的切换控制信号反转的反转信号,通过该反转信号对上述第1晶体管的导通或关断进行切换;
在上述第1节点及上述第2节点之中的至少一方的电位比电源电位高规定电位以上的情况下,上述开关控制电路将上述第1节点及上述第2节点的电位之中高的电位提供给上述反相器;及
上述反相器将从上述开关控制电路提供的电位提供给上述第1晶体管的栅极,而使上述第1晶体管关断。
3.根据权利要求1所记载的半导体集成电路,其中,
上述开关控制电路具备:
电源电位检测电路,判断上述第1节点的电位及上述第2节点的电位之中的至少一方是否高于电源电位;及
电位比较电路,在通过上述电源电位检测电路判断为上述第1节点的电位及上述第2节点的电位之中的至少一方高于电源电位的情况下,选择上述第1节点及上述第2节点之中高的电位并输出;
上述反相器将从上述电位比较电路输出的电位提供给上述第1晶体管的栅极,而使上述第1晶体管关断。
4.根据权利要求2所记载的半导体集成电路,其中,
上述开关控制电路具有基板偏压电路,该基板偏压电路在使上述第1节点和上述第2节点电导通时,将上述第1晶体管的基板电位、上述第1节点的电位和上述第2节点的电位设定为共通的电位,上述共通的电位被提供给上述反相器。
5.根据权利要求2所记载的半导体集成电路,其中,
上述开关控制电路具有电位迅速化电路,该电位迅速化电路在从上述电源电位检测电路输出判定结果之前,将上述第1节点的电位及上述第2节点的电位输入上述电位比较电路。
6.根据权利要求2所记载的半导体集成电路,其中,
上述第1晶体管是P型;
上述开关控制电路内的全部晶体管是P型。
7.根据权利要求2所记载的半导体集成电路,其中,
还具备N型的第2晶体管,该N型的第2晶体管根据上述切换控制信号,对使上述第1节点和上述第2节点电导通或切断进行切换。
8.根据权利要求7所记载的半导体集成电路,其中,
上述第1晶体管和上述第2晶体管互相同步地导通或关断。
9.根据权利要求7所记载的半导体集成电路,其中,
上述第1晶体管的基板电位与上述开关控制电路的输出节点连接,上述第2晶体管的基板电位设定为接地电位。
10.根据权利要求2所记载的半导体集成电路,其中,
上述反相器具有:
二极管,具有设定为电源电位的正极、及与上述开关控制电路的输出节点连接的负极;
P型的第3晶体管,具有与上述二极管的负极连接的源极、与上述反相器的输出节点连接的漏极、及上述切换控制信号被输入的栅极;及
N型的第4晶体管,具有设定为接地电位的源极、与上述反相器的输出节点连接的漏极、及上述切换控制信号被输入的栅极。
11.根据权利要求2所记载的半导体集成电路,其中,
上述反相器具有:
二极管,具有设定为电源电位的正极、及与上述开关控制电路的输出节点连接的负极;
P型的第3晶体管,具有与上述二极管的负极连接的源极、与上述反相器的输出节点连接的漏极、及上述切换控制信号被输入的栅极;及
阻抗元件,连接在上述反相器的输出节点和接地电位之间。
12.根据权利要求3所记载的半导体集成电路,其中,
上述电源电位检测电路具有第5晶体管及第6晶体管,上述第5晶体管的源极及漏极分别经由第1节点及第3节点与上述电位比较电路连接,上述第6晶体管的源极及漏极分别经由第2节点及第4节点与上述电位比较电路连接。
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