[发明专利]一种大型叶片全尺寸检测方法

权利要求书

1.一种大型叶片全尺寸检测方法，该方法借助于光栅面扫描对叶片型面尺寸测量和白光聚焦对叶片边缘测量，将两种的点云数据统一到同一坐标系中，生成叶片整体点云数据，实现对大型叶片全尺寸的非接触式检测，检测方法包括以下步骤：

⑴、建立与测量系统光学三维扫描测量头相对位置可调的叶片支架，在叶片支架上设置标志点，用于以后数据的拼接；

⑵、对光学三维扫描测量头中光栅面扫描摄像头获得的图像进行去噪、增强处理； 

⑶、步骤⑵处理后的图像，基于摄影测量原理和光束平差优化方法获得标志点坐标；将标志点坐标输入到三维测量系统计算机的软件中，在三维测量系统计算机上建立叶片支架正反面的光栅面扫描原始模型及基础坐标系；

⑷、将被测叶片安装在叶片支架上，光学三维扫描测量头中光栅面扫描摄像头对叶片支架和叶片一起进行测量，光学三维扫描测量头获得的图像按步骤⑵处理，处理后的图像，基于摄影测量原理和光束平差优化方法获得标志点坐标；计算机通过识别叶片支架的标志点特征将测量得到的标志点坐标与步骤 ⑵、⑶所述的标志点坐标对齐，将测量数据载入到步骤  ⑶所述的原始模型中，完成单次测量； 

⑸、计算机将步骤 ⑷ 的测量结果在步骤 ⑶ 建立的基础坐标系中拼合，拼合的内容包括计算机已存储的多次执行步骤 ⑷ 获得的被测叶片的单次测量数据； 

⑹、计算机判断步骤⑷ 的拼合结果是否为完整的叶片型面数据，如果完整，则优化测量结果，测量结束，将数据导入叶片专用测量软件中，对叶片的关键尺寸作误差，利用分析处理软件对测量结果进行分析，叶片型面数据如果不完整，则通过调整叶片支架的三维空间位置，按步骤 ⑵ 进行在次测量；

⑺．光学三维扫描测量头中白光聚焦摄像头获得的图像，基于白光聚焦测量原理，三维光学测量系统获得支架上设置标志点的坐标，将标志点坐标输入到三维测量软件，在计算机上建立叶片支架正反面的白光聚焦测量的原始模型及基础坐标系；

⑻．光学三维扫描测量头中的白光聚焦摄像头对叶片支架和叶片一起进行基于白光聚焦测量 ，三维光学测量系统计算机通过识别叶片支架的标志点特征将测量得到的标志点坐标和步骤 ⑺所述的标志点坐标对齐，将测量数据载入到步骤 ⑺ 所述的原始模型中，完成单次测量；

⑼．计算机将步骤⑻ 的测量结果在步骤⑺ 建立的基础坐标系中拼合，拼合的内容包括计算机已存储的多次执行步骤 ⑻获得的被测叶片的单次测量数据；

⑽．计算机判断步骤⑼的拼合结果是否为完整的叶片边缘细节区域数据，判读依据为叶片局部曲率变化小于设定的阈值；

⑾．如果完整，则优化测量结果，测量结束，将数据导入叶片专用测量软件中，对叶片的关键尺寸作误差，利用分析处理软件对测量结果进行分析，如果不完整，则通过调整叶片支架的三维空间位置，按步骤 ⑺ ，进行在次测量；

⑿．将步骤 ⑶和⑺基础坐标系及步骤⑹和⑾两种测量的点云数据统一到同一坐标系中，生成叶片整体点云数据，利用分析处理软件对测量结果进行分析得检测结果。