[发明专利]高稳定度恒温晶体振荡器拐点电阻调试装置及调试方法

权利要求书

1.高稳定度恒温晶体振荡器拐点电阻调试装置，其特征在于，所述调试装置包括有一计算机（10）、一频率计（20）、一铷原子频率源（30）及至少一层调试架，每层调试架上设有一晶振调试板（40）及一射频控制板（50），所述晶振调试板（40）及射频控制板（50）各自具有唯一的地址码，其中，

所述铷原子频率源（30）发送标准频率的振荡信号至频率计（20）的标准频率信号端口，频率计（20）以该振荡信号的频率作为参考频率；

所述晶振调试板（40）包括有一第一译码器（401）、多个晶振座（403）及一数字电位器（402），所述射频控制板（50）包括有一第二译码器（501）及多个选通开关（502），所述第一译码器（401）的选位端与计算机（10）的通讯端口相连，第一译码器（401）的输出端与数字电位器（402）的使能端相连，所述计算机（10）输出的赋值指令传送至数字电位器（402）的输入端，数字电位器（402）的输出端与晶振座（403）的电阻调试端口相连，多个晶振座（403）的输出端分别连接于多个选通开关（502）的输入端，所述第二译码器（501）的选位端与计算机（10）的通讯端口相连，第二译码器（501）的输出端分别连接于多个选通开关（502）的控制端，多个选通开关（502）的输出端相互连接后，再连接至频率计（20）的输入端，频率计（20）将测试结果以电信号的形式发送至计算机（10）。

2.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，所述调试装置还包括有一直流电源（60），所述直流电源（60）输出直流电压为晶振座（403）供电，该直流电压是0V～30V连续可调电压，所述直流电源（60）还输出5V直流电压为晶振调试板（40）及射频控制板（50）供电。

3.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，所述调试架的层数为6层。

4.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，每个晶振调试板（40）包括有16个晶振座（403）。

5.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，所述第一译码器（401）和第二译码器（501）通过DB25并口线连接至计算机（10）的并口端。

6.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，所述频率计（20）通过GPIB接口而连接至计算机（10）。

7.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，所述调试装置还包括有一扩展板，多个晶振调试板（40）及多个射频控制板（50）分别通过IDC40而连接至扩展板，之后再通过DB25接口而转接至计算机（10）的并口端。

8.基于权利要求1所述的调试装置的调试方法，其特征在于，所述调试方法包括如下步骤：

步骤S100，为晶体振荡器上电以令其起振并预热20分钟；

步骤S101，计算机（10）发送选位指令至第一译码器（401），以令第一译码器（401）输出使能信号至数字电位器（402）的使能端；

步骤S102，计算机（10）发送赋值指令至数字电位器（402），以设定晶体振荡器匹配电阻的阻值；

步骤S103，计算机（10）发送另一选位指令至第二译码器（501），以令第二译码器（501）发送选通指令至多个选通开关（502），且驱动多个选通开关（502）之一呈开通状态，其他呈关闭状态；

步骤S104，多个晶振座（403）上的多个晶体振荡器之一所产生的振荡信号通过已开通的选通开关（502）而传输至频率计（20）；

步骤S105，频率计（20）将所测得的频率值反馈回计算机（10）；

步骤S106，一组赋值指令发送完成后，计算机（10）根据所记录的多个频率值找出频率变化最小的拐点处，得到该点的频率和与该频率相对应的电阻值，此电阻即为该晶体振荡器的拐点电阻；

步骤S107，计算机（10）将下一晶体振荡器所对应的选位指令发送至第一译码器（501），重复步骤S101～步骤S106，直至全部晶体振荡器的拐点电阻调试完成。