[发明专利]一种频率器件自动测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种频率器件自动测试装置，其特征在于，所述测试装置包括有一计算机（1）、一综合控制单元（2）、一频率计（3）及至少一个高低温箱（4），其中，

所述综合控制单元（2）包括有一核心CPU（20），所述核心CPU（20）与计算机（1）交互通讯；

所述高低温箱（4）上设有一高低温控制单元（40），所述高低温控制单元（40）与核心CPU（20）交互通讯，其用于执行核心CPU（20）的控制指令而调节高低温箱（4）的温度，以及采集高低温箱（4）内的温度并将该温度以电信号的形式发送至核心CPU（20）；

所述高低温箱（4）内设有多个选位测试单元（41），所述选位测试单元（41）包括有多组测试工位，每组测试工位包括有一4514译码器（410）、多个选通开关（411）和多个器件座（412），所述核心CPU（20）将选位指令发送至4514译码器（410）的选位端，4514译码器（410）的多个输出端分别连接于多个选通开关（411）的控制端，多个器件座（412）的输出端分别连接于多个选通开关（411）的输入端，多个选通开关（411）的输出端相互连接后再连接至频率计（3）的输入端，频率计（3）将测试结果以电信号的形式发送至核心CPU（20），所述核心CPU（20）将测试结果返回至计算机（1）。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括有一直流电源（5），所述直流电源（5）输出直流电压为器件座（412）供电，该直流电压是0V～30V连续可调电压，所述直流电源（5）还输出5V直流电压为综合控制单元（2）及选位测试单元（41）供电。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述高低温箱（4）的数量是2个，每个高低温箱（4）内设有4个选位测试单元（41），每个选位测试单元（41）内设有5组测试工位，每组测试工位包括有16个选通开关（411）和16个器件座（412）。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述核心CPU（20）通过一第一232接口（21）而连接至计算机（1）。

5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述高低温控制单元（40）通过一第二232接口（22）而连接至核心CPU（20）。

6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述频率计（3）通过一第三232接口（23）而连接至核心CPU（20）。

7.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述选位测试单元（41）通过DB25并口（24）而连接至核心CPU（20）。

8.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述核心CPU（20）是AVR单片机，其芯片型号是Atmega8515。

9.一种用于频率器件自动测试装置的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括如下步骤：

步骤S100，计算机（1）将测试温度点发送至核心CPU（20）；

步骤S101，核心CPU（20）根据测试温度点向高低温控制单元（40）发送温度点设置命令；

步骤S102，高低温控制单元（40）采集高低温箱（4）内的温度，并将该温度值实时地发送至核心CPU（20）；

步骤S103，高低温箱（4）内的温度达到温度点，高低温控制单元（40）控制高低温箱（4）开始恒温，核心CPU（20）开始计时；

步骤S104，计时完成后，核心CPU（20）向选位测试单元（41）发送选位指令，以令多个器件座（412）上多个频率器件之一的频率信号输出至频率计（3）；

步骤S105，核心CPU（20）将频率计（3）的测试结果发送至计算机（1），并由计算机（1）保存至数据库；

步骤S106，重复步骤S104至步骤S105，直至选位测试单元（41）内的多个频率器件全部测试完成；

步骤S107，计算机（1）将下一测试温度点发送至核心CPU（20），之后重复步骤S102至步骤S106，直至所有温度点下的频率器件全部测试完成；

步骤S108，频率器件测试工作结束。

10.如权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述步骤S103中，核心CPU（20）的计时时间为15分钟。