[发明专利]数粒机的计数装置及其计数方法无效
申请号: | 201310083713.4 | 申请日: | 2013-03-15 |
公开(公告)号: | CN103424349A | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 张明哲;柯拔希 | 申请(专利权)人: | 光大企业股份有限公司 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10;B65B57/20 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数粒机 计数 装置 及其 方法 | ||
技术领域
本发明是关于一种计数装置,尤指一种数粒机的计数装置及其计数的方法。
背景技术
现今多数制药厂商多半是于药丸制造完成后,即透过一数粒机将药丸以一定数量分装至每一瓶罐内,再将此瓶罐送至医院、药局或经销商以供使用或贩卖。
请配合参阅图5,现有技术中的数粒机多半是包含有一置药槽90、一振动机91及一个以上的感测计数器92,其主要是将大量药丸放置于置药槽90后,透过该振动机91以振动方式将药丸送至该感测计数器92,并于该感测计数器92下端设置一瓶罐93,以供药丸落下时可落入该瓶罐93内,因此通过感测计数器92感测该药丸落下的数目,一旦药丸数目到达预设值时,即暂时停止药丸落下,并更换另一瓶罐,再恢复其动作,如此即可令每一瓶罐93皆有相同数目的药丸。
该感测计数器92设有一遮断式感测单元94,其主要运作方式是当药丸进入感测计数器92时,该药丸会遮挡该遮断式感测单元94,此时该感测计数器92即对药丸的数目加1,再感测下一个落下的药丸,如此重复上述动作,即可计算出药丸进入瓶罐93的数目。
上述计算药丸数目的方式有一缺点是当药丸接连落下时(如图6所示),导致该遮断式感测单元94无法恢复至待机状态,因此无法准确地感测其药丸的数目,鉴于上述,另有一方法可解决此一问题,其主要是计算药丸遮挡该遮断式感测单元94的时间,意即该感测计数器92预设有一遮挡时间,该遮挡时间是单一药丸遮挡该遮断式感测单元94的时间,故通过计算遮断式感测单元94被遮挡的时间,即可得知是否发生二个以上的药丸连续落下的问题,藉此可供现场工作人员后续处理。
上述透过计算药丸落下且遮挡该遮断式感测单元94的时间虽可解决药丸接连落下的问题,惟其仅限于该药丸系以纵向方式接连落下,如药丸是以横向方式重迭粘合时(如图7所示),该遮断式感测单元94于相同遮挡时间内,仅能感测到单一药丸落下,同样会发生该误判药丸落下的数目,鉴于上述问题,实有必要解决,并谋求可行的解决方案。
发明内容
鉴于上述现有技术的缺点,本发明主要目的是提供一种数粒机的计数方法,藉以改进传统计数的方法,以达到精确地计算的目的。
为达成前述目的所采取的技术手段是令前述计数方法在一待测颗粒进入待测区后执行下列步骤:
取得待测颗粒的一宽度、一长度,以换算出待测颗粒的一截面积;
取得待测颗粒通过待测区的时间,以换算待测颗粒的一高度;
以待测颗粒的截面积与高度换算一待测体积;
根据待测体积与一预设标准体积的差异,作为计算待测颗粒数量的依据。
在前述方法中是计算待测颗粒通过待测区时取得其截面积及高度,以换算一待测体积,并以该待测体积与一设定的标准体积的差异,作为计算待测颗粒通过待测区实际数量的依据,藉此可精确地计算待测颗粒的数量,避免因颗粒重迭粘合,造成计数不实的缺点。
本发明又一目的是提供一种数粒机的计数装置,为达成上述目的所采取的技术手段是令前述数粒机的计数装置包含有:
一本体,具有一顶面、一底面及一个以上贯穿顶面、底面的通道,各通道上下端分别形成有一入口及一出口;
一个以上的第一轴向感测模块,是设于前述本体上,且位于通道的入口处,所述第一轴向感测模块是由多数等距并排的第一感测器所组成;
一个以上的第二轴向感测模块,是设于前述本体上,且位于通道的入口处,并与第一轴向感测模块呈非平行且非重迭设置,所述第二轴向感测模块是由多数等距并排的第二感测器所组成;
一控制单元,是与前述第一、第二轴向感测模块的第一、第二感测器连接,且内建有前述的计数方法。
当一待测颗粒通过本体的通道时,第一轴向感测模块的各个第一感测器将在第一轴向上感测所述待测颗粒,并送出一第一轴向感测信号至控制单元,第二轴向感测模块的各个第二感测器则在第二轴向上感测所述待测颗粒,并送出一第二轴向感测信号至控制单元,控制单元根据接收的第一、第二轴向感测信号及待测颗粒通过通道的时间,以换算出待测颗粒的待测体积,再与一预设的标准体积比较,以取得通过通道的待测颗粒实际数量,如此即可精确地计算出待测颗粒数量,藉此避免因颗粒重迭粘合而发生计算误差,造成计数不实的缺点。
附图说明
图1为本发明的一立体示意图。
图2为本发明的一感测器平面图。
图3为本发明的另一感测器平面图。
图4为本发明的计数方法一实施例的流程图。
图5为现有技术中数粒机的示意图。
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