[发明专利]固态硬盘管理方法、服务器及系统有效
申请号: | 201310086352.9 | 申请日: | 2013-03-18 |
公开(公告)号: | CN104063181B | 公开(公告)日: | 2017-03-29 |
发明(设计)人: | 黄斐玉;刘洋 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 | 代理人: | 张耀光 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 固态 硬盘 管理 方法 服务器 系统 | ||
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,特别涉及一种固态硬盘管理方法、服务器及系统。
背景技术
SSD(Solid State Disk,固态硬盘)是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘,具有高速、高环境适应能力和低噪音的优点,基于这些优点,SSD将得到大范围的应用。然而,SSD中采用的NAND flash(闪存)的块只有有限的P/E(Program/Erase,编程/擦除)循环次数,当块的P/E循环次数达到极限后,此块将变成无效块,对无效块写入数据会造成数据丢失的问题,其中,一次编程加一次擦除为一次P/E循环。为了保持SSD的容量,可以在SSD中设置预留块,由预留块补充无效块,当预留块数等于无效块数时,SSD的容量就会发生衰减,降低了SSD的性能,此时,SSD失效。因此,需要计算SSD的剩余寿命,以便在SSD的剩余寿命为零前及时管理SSD。
现有技术中,终端可以通过调用第三方软件获取SSD当前剩余P/E循环次数、SSD容量和每天的SSD写入数据量,根据以下公式计算SSD的剩余寿命:
比如,SSD容量为64GB,当前剩余的P/E循环次数为2000次,SSD写入数据量为20GB/天,则SSD的剩余寿命=(64×2000)/(100×365)=3.5年。
在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题:
现有技术假设SSD中所有块都被均匀地编程/擦除,然而,由于SSD的耗损均衡算法的局限性,在任意时刻,所有块剩余的P/E循环次数是不完全相同的,使得基于SSD中所有块都被均匀地编程/擦除的假设计算的SSD剩余寿命不准确。
发明内容
为了解决基于SSD中所有块都被均匀地编程/擦除的假设计算的SSD剩余寿命不准确的问题,本发明实施例提供了一种固态硬盘管理方法、服务器及系统。所述技术方案如下:
一方面,提供了一种固态硬盘管理方法,所述方法包括:
获取固态硬盘中单个块的极限P/E循环次数和当前失效P/E循环次数,所述当前失效P/E循环次数为假设所述固态硬盘当前失效时所有失效块中的最小P/E循环次数;
将所述极限P/E循环次数减去所述当前失效P/E循环次数得到有效P/E循环次数;
将所述有效P/E循环次数除以平均失效P/E循环次数增量得到所述固态硬盘的剩余寿命,所述平均失效P/E循环次数增量为预定时间段内平均增加的失效P/E循环次数。
另一方面,提供了一种服务器,所述服务器包括:
第一获取模块,用于获取固态硬盘中单个块的极限P/E循环次数和当前失效P/E循环次数,所述当前失效P/E循环次数为假设所述固态硬盘当前失效时所有失效块中的最小P/E循环次数;
第一计算模块,用于将所述第一获取模块获取的所述极限P/E循环次数减去所述当前失效P/E循环次数得到有效P/E循环次数;
第二计算模块,用于将所述第一计算模块计算得到的所述有效P/E循环次数除以平均失效P/E循环次数增量得到所述固态硬盘的剩余寿命,所述平均失效P/E循环次数增量为预定时间段内平均增加的平均失效P/E循环次数。
再一方面,本发明提供了一种固态硬盘管理系统,所述系统包括:如上所述的服务器和至少一个终端;
所述终端,用于将固态硬盘中单个块的极限P/E循环次数、总块数、预留块数和每一个块的当前P/E循环次数发送给所述服务器,以便所述服务器根据所述单个块的极限P/E循环次数、所述总块数、所述预留块数和所述每一个块的当前P/E循环次数计算所述固态硬盘的剩余寿命。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
通过获取固态硬盘中单个块的极限P/E循环次数和当前失效P/E循环次数,所述当前失效P/E循环次数为假设所述固态硬盘当前失效时所有失效块中的最小P/E循环次数;将所述极限P/E循环次数减去所述当前失效P/E循环次数得到有效P/E循环次数;将所述有效P/E循环次数除以平均失效P/E循环次数增量得到所述固态硬盘的剩余寿命,所述平均失效P/E循环次数增量为预定时间段内平均增加的失效P/E循环次数,解决了在任意时刻,所有块剩余的P/E循环次数是不完全相同的,使得基于SSD中所有块都被均匀地编程/擦除的假设计算的SSD剩余寿命不准确的问题,达到了提高计算SSD的剩余寿命的准确性的效果。
附图说明
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