[发明专利]用于测量样品的热电性能的样品座及测量方法有效
申请号: | 201310087023.6 | 申请日: | 2013-03-19 |
公开(公告)号: | CN104062318A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 王汉夫;官爱强;褚卫国;郭延军;金灏;熊玉峰 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G01N25/48 | 分类号: | G01N25/48;G01R27/14 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 南毅宁;肖冰滨 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 样品 热电 性能 测量方法 | ||
1.一种用于测量样品的热电性能的样品座,该样品座包括基座(2)、绝缘垫片(3)、两个第一压块(4)、两个第二压块(5)、两个第三压块(6)和两个温差加热器(7和7′),其中:
所述基座(2)上铺设所述绝缘垫片(3),所述两个第一压块(4)间隔安装在所述绝缘垫片(3)上,所述两个第二压块(5)分别位置相对地叠压在所述两个第一压块(4)上,被测样品(8)悬置并且两端分别固定在所述第一压块(4)与所述第二压块(5)之间,所述两个第三压块(6)分别位置相对地叠压在所述两个第二压块(5)上,各个所述第二压块(5)与所述第三压块(6)之间分别放置一个所述温差加热器(7或7′)。
2.根据权利要求1所述的样品座,其中,所述两个第一压块(4)在所述绝缘垫片(3)上平行地间隔设置并且各个所述第一压块(4)的两端分别通过第一紧固件(11)固定安装到所述基座(2)上,所述被测样品(8)的端部压接于所述第一压块(4)的顶面中部和所述第二压块(5)的底面中部。
3.根据权利要求2所述的样品座,其中,所述第一紧固件(11)与所述基座(2)之间布置有陶瓷垫片(12)和绝缘陶瓷管(13),以使所述第一紧固件(11)与所述基座(2)之间绝缘。
4.根据权利要求1所述的样品座,其中,该样品座还包括第二紧固件和第三紧固件,所述第二紧固件连接所述第一压块(4)和所述第二压块(5),所述第三紧固件连接所述第二压块(5)和第三压块(6)以固定所述温差加热器(7和7′)。
5.根据权利要求1所述的样品座,其中,所述温差加热器(7和7′)置于所述第二压块(5)的顶面中部和所述第三压块(6)的底面中部。
6.根据权利要求1所述的样品座,其中,所述绝缘垫片(3)是能够在所述基座(2)与所述第一压块(4)之间形成热传导和电绝缘并且能够耐受所述样品座上的温度的材料。
7.根据权利要求6所述的样品座,其中,所述绝缘垫片(3)为氮化硼。
8.根据权利要求1所述的样品座,其中,所述第三压块(6)具有避免所述第三压块(6)在使用过程中变形的强度。
9.一种利用权利要求1至7中任一权利要求所述的样品座对样品的热电性能进行测试的方法,该方法包括:
将固定了所述被测样品(8)的所述样品座置于为真空的样品室中,其中所述被测样品(8)的两端上分别固定有温度检测元件(9和9′)和热电电压输出端(9和9′);
交替地启动和关闭位于所述被测样品(8)的两端上的所述温差加热器(7和7′)以使所述被测样品(8)交替地处于两端温度不均匀的升温阶段和降温阶段,并使用所述温度检测元件(9和9′)和所述热电电压输出端(9和9′)来获取所述升温阶段和所述降温阶段中所述被测样品(8)两端的温度差和热电电压,直到在设定温差范围中获得了多组所述温度差和所述热电电压为止;以及
依据在各个所述升温阶段中所获得的温度差和热电电压来获得第一热电势,依据在各个降温阶段中所获得的温度差和热电电压来获得第二热电势,并利用所述第一热电势和所述第二热电势来获得所述被测样品(8)的热电势。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述温度检测元件(9和9′)和所述热电电压输出端(9和9′)是热电偶。
11.根据权利要求9所述的方法,该方法还包括:
向所述被测样品(8)中施加电流;
获得所述被测样品(8)两端的电压差;
利用所述电流和所述电压差来获得所述被测样品(8)的电阻率。
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