[发明专利]含多测量单元的高压三轴压力室

权利要求书

1.一种高压三轴压力室，包括主腔体、位于所述主腔体下部的下底盘和位于所述主腔体上部的上顶盖，所述下底盘和上顶盖通过三根轴连接，其特征在于，所述高压三轴压力室还包括如下可替换使用的测量单元中的一种或多种：

超声测量单元，所述超声测量单元包括：超声探头专用上岩心塞和超声探头专用下岩心塞，所述超声探头专用上岩心塞和超声探头专用下岩心塞的内部均设置有超声探头，所述超声探头专用上岩心塞位于上顶盖的下部，样品的上方；所述超声探头专用下岩心塞位于下底盘的上部，样品的下方；

时域反射测量单元，所述时域反射测量单元包括时域反射专用下岩心塞，所述时域反射专用下岩心塞内部设置有时域反射探头，所述时域反射专用下岩心塞位于下底盘的上部，样品的下方；

电阻测量单元，所述电阻测量单元包括电阻率专用上岩心塞和电阻率专用下岩心塞，所述电阻率专用上岩心塞和电阻率专用下岩心塞为电阻率测量探头，所述电阻率专用上岩心塞位于上顶盖的下部，样品的上方；所述电阻率专用下岩心塞位于下底盘的上部，样品的下方；

温度测量单元，所述温度测量单元包括温度测量专用上岩心塞，所述温度测量专用上岩心塞位于上顶盖的下部，其上设置有一个以上的温度测量探头。

2.如权利要求1所述的高压三轴压力室，其特征在于，

当采用时域反射测量单元时，所述时域反射探头上的探针向上伸出至样品中部。

3.如权利要求1所述的高压三轴压力室，其特征在于，

当采用电阻测量单元时，所述下底盘由绝缘材料制成。

4.如权利要求1所述的高压三轴压力室，其特征在于，

温度测量专用岩心塞上设置有三个不同高度的温度测量探头，当采用温度测量单元时，所述温度测量探头向下伸出至样品中，用于分别测量样品中三个位置的温度。

5.如权利要求1所述的高压三轴压力室，其特征在于，

所述超声探头为外径为30mm，长度为35mm。