[发明专利]一种高钙线取制样及测定方法无效

专利信息
申请号: 201310087574.2 申请日: 2013-03-19
公开(公告)号: CN103234771A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 乔宇;赵布和;王宴秋;刘建华;刘钢耀 申请(专利权)人: 内蒙古包钢钢联股份有限公司
主分类号: G01N1/04 分类号: G01N1/04;G01N1/28;G01N21/73
代理公司: 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 代理人: 张良
地址: 014010 内*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 一种 高钙线取制样 测定 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及钢铁冶金分析技术领域,具体地说,涉及一种高钙线取制样及测定方法。

背景技术

高钙线是一种新型脱氧剂,其在炼钢工艺中的作用与铁钙线相同,但由于其内部填充的芯粉为纯钙而非铁与钙的混合物,因此其效果较铁钙线要好,达到同样要求的用量也较铁钙线要低。因此准确分析高钙线的钙纯度及填充重量是控制最终产品的重要环节。

由于高钙线是一种新型的包芯线,内部钙粒填充比较密实,在取制样方面存在一定困难。另外,在测定芯粉重量的时候,由于包芯线管壁多为整体无接口钢管,因此在铁皮与内部钙粒的分离上,存在一定难度。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种高钙线取制样及测定方法,快速准确测定高钙线中钙纯度及芯粉的单位长度的填充质量。

本发明的技术方案如下:

一种高钙线取制样及测定方法,包括以下步骤:用切管器从高钙线中取样,得到用于测定钙纯度的待测试样和用于测定芯粉的单位长度的填充质量的待测试样;测定高钙线的钙纯度,包括:用电感耦合等离子体发射光谱仪测定所述用于测定钙纯度的待测试样的杂质的含量;得到所述用于测定钙纯度的待测试样的钙纯度,钙纯度=100-w,其中w为钙中杂质的百分含量;测定高钙线的芯粉的单位长度的填充质量,包括:称量所述用于测定芯粉的单位长度的填充质量的待测试样的质量m0和长度l;将所述用于测定芯粉的单位长度的填充质量的待测试样置于水中,使钙线中的钙完全反应;取出铁皮,擦干所述铁皮后称量所述铁皮的质量m1;采用得到芯粉的单位长度的填充质量m。

进一步,所述用切管器从高钙线中取样包括:将桌虎钳固定在工作台上;将所述高钙线置于所述桌虎钳的卡口处,所述高钙线露出所述卡口的外端8公分;将切管器卡在所述高钙线的前端进行切割,得到环形切割段,所述环形切割段作为所述用于测定芯粉的单位长度的填充质量的待测试样。

进一步,所述得到用于测定钙纯度的待测试样包括:用钢锯沿所述环形切割段的轴线方向进行切割;用斜口钳、一字螺丝刀将所述环形切割段的铁皮剥离;用胡桃钳、一字螺丝刀取得适量的芯粉样品,放入洁净干燥的容器内;用磁铁去除所述芯粉样品内的铁质粉末,并去除其他杂质,得到所述用于测定钙纯度的待测试样。

进一步:所述环形切割段的宽度为3-4mm,切割厚度为铁皮厚度。

进一步:所述环形切割段的长度为20cm。

进一步,所述用电感耦合等离子体发射光谱仪测定所述用于测定钙纯度的待测试样的杂质的含量包括:称取一定量的所述用于测定钙纯度的待测试样,用酸溶解得到待测溶液;制备标准溶液,确定标准工作曲线;将所述待测溶液引入电感耦合等离子体发射光谱仪,根据所述标准工作曲线测定所述杂质的含量。

进一步,所述制备标准溶液包括:取六份10ml钙标准溶液于100ml容量瓶中,加入杂质标准溶液,用水稀释至刻度,杂质的质量百分含量依次为0、0.005、0.010、0.025、0.050、0.1,钙标准溶液的浓度为10mg/ml。

进一步,所述待测试样中的杂质包括:铬、镍、铜、锰、镁、铁和铝。

进一步:铬标准溶液的浓度为100μg/ml,镍标准溶液的浓度为100μg/ml,铜标准溶液的浓度为100μg/ml,锰标准溶液的浓度为100μg/ml,镁标准溶液的浓度为100μg/ml,铁标准溶液的浓度为100μg/ml,铝标准溶液的浓度为100μg/ml,。

进一步:钙纯度=100-(wCr+wNi+wCu+wMn+wMg+wFe+wAl),其中wNi为钙中杂质镍的质量百分含量,wMn为钙中杂质锰的质量百分含量,wCr为钙中杂质铬的质量百分含量,wMg为钙中杂质镁的质量百分含量,wCu为钙中杂质铜的质量百分含量,wAl为钙中杂质铝的质量百分含量,wFe为钙中杂质铁的质量百分含量。

本发明的技术效果如下:

1、本发明的方法原理合理、操作简便,可以快速准确测定高钙线中钙纯度及芯粉的单位长度的填充质量。

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