[发明专利]氧化铝基微波介质陶瓷及其制备方法

权利要求书

1.一种氧化铝基微波介质陶瓷，其化学组成的表达式为式(I)：

xα-Al₂O₃-(1-x)R(I)；

其中，x为0.965～0.99；

R为改性添加剂，包括第一添加剂和第二添加剂，所述第一添加剂为MgO、CaCO₃和SiO₂，所述第二添加剂为K₂O、Na₂O、ZnO、Y₂O₃和B₂O₃中的一种或多种；

MgO的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0.2mol％～1.5mol％；

CaCO₃的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0.03mol％～1mol％；

K₂O的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0mol％～0.5mol％；

Na₂O的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0mol％～0.6mol％；

ZnO的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0mol％～0.6mol％；

Y₂O₃的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0mol％～0.4mol％；

SiO₂的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0.3mol％～1.8mol％；

B₂O₃的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0mol％～0.5mol％。

2.根据权利要求1所述的氧化铝基微波介质陶瓷，其特征在于，Y₂O₃的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0.1mol％～0.3mol％。

3.根据权利要求1所述的氧化铝基微波介质陶瓷，其特征在于，ZnO的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0.1mol％～0.3mol％。

4.根据权利要求1所述的氧化铝基微波介质陶瓷，其特征在于，MgO的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0.4mol％～1.2mol％。

5.根据权利要求1所述的氧化铝基微波介质陶瓷，其特征在于，CaCO₃的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0.04mol％～0.5mol％。

6.根据权利要求1所述的氧化铝基微波介质陶瓷，其特征在于，SiO₂的含量为氧化铝基微波介质陶瓷的0.3mol％～1.3mol％。