[发明专利]图像模糊处理方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310089234.3 申请日: 2013-03-19
公开(公告)号: CN104063858B 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 邵真天;彭晓峰;林福辉;朱洪波;常广鸣;陈敏杰;牛海军;张乐 申请(专利权)人: 展讯通信(上海)有限公司
主分类号: G06T3/00 分类号: G06T3/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 图像 模糊 处理 方法 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及数字图像处理技术领域,尤其涉及一种图像模糊处理方法及装置。

背景技术

微缩景观特效主要是用来模拟移轴镜头拍摄真实场景时产生的浅景深的效果。这种浅景深的效果图会给人一种拍摄人造模型的感觉。正常情况下,相机焦平面与胶片平面平行,当用大光圈拍摄时,焦平面上的景物清晰而焦外模糊。但用移轴镜头拍摄时,由于镜头可以移动摇摆,改变光线投射到感光元件的角度,从而改变清晰点,使得即使在同一焦平面的景物亦可以轻易造出浅景深的效果。

通常利用移轴镜头所拍摄的微缩景观片图像具有一个清晰区及由该清晰区的分界线向外逐渐变模糊的模糊区,现有的微缩景观图像通常由中间一个清晰区和上下两个渐变的模糊区组成。为了使普通相机或摄像头拍摄出来的图像也具有上述微缩景观特效,现有技术中常用的方法是先计算模糊区中需要模糊的像素点到与中间清晰区的分界线的距离与模糊区垂直宽度的比例值,然后计算或者选择对应模糊程度的模板对该像素点进行模糊处理。例如公开号为CN102509294A的中国专利申请公开了对单幅图像进行高斯模糊处理,可以得到模糊图像。

本发明发明人在对现有技术进行研究过程中发现,由于单个像素点所能接受的计算复杂度或者硬件实现成本受限,用来进行模糊处理的最大模板的大小也有限,特别是当所要处理的图像分辨率很高时,小模板所能达到的最大模糊程度很难令人满意。以高斯模糊为例,从视觉上来说,对于一幅8兆分辨率的图像,若要能达到较为满意的模糊程度,通常使用的模板大小应在31×31以上,而推荐的模板大小应在61×61~81×81。假设使用31×31的固定大小的模板进行模糊,且需要进行模糊的像素点占图像大小的50%,则计算下来总共需要接近40亿次的乘加运算,即:31×31×8×106×50%≈38亿次。

本发明发明人发现,对于上述现有的实现图像微缩景观特效模糊处理的方法,存在如下问题:

首先,为了达到较满意的模糊程度,所需选取的模糊模板很大。而模板越大,所需进行的计算次数就越多。对于一幅较高分辨率的图像,往往需要几十亿次的乘加运算,计算速度较慢,非常消耗资源。

其次,对于不同大小的图像,为了达到较一致的模糊程度,所需模板的大小也会相应不同。如果采用固定大小的模板,使用较大模板对低分辨率图像处理时,为得到与高分辨率图像一样的模糊程度,只有模板中部元素非零,而模板周围元素大多为零,因此会引入很多不必要的运算,自适应性较差。

综上可知,现有的实现微缩景观特效的图像模糊处理方法,其模糊处理运算速度慢,自适应性较差。

发明内容

为解决上述现有技术中的至少一个问题,本发明实施例提供一种图像模糊处理方法及装置,能够提高模糊处理速度,具有较好的自适应性。

本发明实施例提供了一种图像模糊处理方法,包括:设置图像中清晰区与模糊区的分界线;根据所要处理的图像大小设置模糊区的抽样模糊参数;采用所设置的模糊区的抽样模糊参数对模糊区进行抽样模糊处理;计算模糊区中像素点对应的模糊模板;采用得到的模糊模板对抽样模糊处理后的模糊区中的所述像素点进行模糊滤波。可选的,所述根据所要处理的图像大小设置模糊区的抽样模糊参数,包括:根据所要处理的图像大小设置模糊区的图像降采样比例值和/或像素点抽样间隔值。

可选的,当根据所要处理的图像大小设置模糊区的抽样模糊参数包括根据所要处理的图像大小设置模糊区的图像降采样比例值时,所述采用所设置的模糊区的抽样模糊参数对模糊区进行抽样模糊处理包括:采用所设置的图像降采样比例值对模糊区进行降采样处理;所述计算模糊区中像素点对应的模糊模板,包括:计算确定降采样处理后的模糊区中像素点需要被模糊的程度;根据所述像素点需要被模糊的程度计算所述模糊区中所述像素点对应的模糊模板。

可选的,当根据所要处理的图像大小设置模糊区的抽样模糊参数包括根据所要处理的图像大小设置模糊区的图像降采样比例值和像素点抽样间隔值时,所述采用所设置的模糊区的抽样模糊参数对模糊区进行抽样模糊处理还包括:采用所设置的像素点抽样间隔值,对降采样处理后模糊区中当前需要模糊处理的像素点所在区域进行抽样处理。

可选的,所述图像模糊处理方法还包括:对模糊滤波后的模糊区进行升采样处理。

可选的,所述将模糊处理后的模糊区进行升采样处理具体为:采用最近邻插值、双线型插值或双三次插值方法进行插值处理。

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