[发明专利]错误响应电路、半导体集成电路以及数据传输控制方法有效

专利信息
申请号: 201310090628.0 申请日: 2013-03-20
公开(公告)号: CN103365730A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 斋藤奈津美;仁茂田永一 申请(专利权)人: 富士通半导体股份有限公司
主分类号: G06F11/00 分类号: G06F11/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 朱胜;陈炜
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 错误 响应 电路 半导体 集成电路 以及 数据传输 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种错误响应电路,包括:

分析电路单元,用于对从第一电路区段传送至第二电路区段的命令进行分析,并且检测所述第一电路区段与所述第二电路区段之间的数据传输的状态;

响应电路单元,用于依照由所述分析电路单元检测到的所述数据传输的状态、响应于所述第二电路区段从第一功耗状态改变至第二功耗状态来生成错误信号,在所述第二功耗状态中的功耗低于在所述第一功耗状态中的功耗;以及

切换电路单元,用于当所述第二电路区段处于所述第二功耗状态时,将由所述响应电路单元所生成的错误信号,而不是将响应信号,传送至所述第一电路区段,所述响应信号响应于所述命令并且被从所述第二电路区段传送至所述第一电路区段。

2.根据权利要求1所述的错误响应电路,其中,当在所述第一电路区段与所述第二电路区段之间的数据传输期间所述第二电路区段改变至所述第二功耗状态时,所述响应电路单元生成所述错误信号。

3.根据权利要求1或2所述的错误响应电路,其中,当所述第二电路区段处于所述第二功耗状态并且所述第一电路区段开始数据传输时,所述响应电路单元生成所述错误信号。

4.根据权利要求1所述的错误响应电路,其中,当所述第二电路区段从所述第二功耗状态返回至所述第一功耗状态时,所述切换电路单元依照所述第二电路区段处于所述第二功耗状态时所述数据传输的状态,将由所述响应电路单元所生成的错误信号传送至所述第一电路区段,并且之后,执行切换以使得由所述第二电路区段所生成的响应信号被传送至所述第一电路区段。

5.根据权利要求1所述的错误响应电路,其中,当在所述第一电路区段与所述第二电路区段之间的数据传输期间所述第二电路区段改变至所述第二功耗状态时,所述响应电路单元生成用于临时推迟所述数据传输的等待,并且之后,生成所述错误信号。

6.一种半导体集成电路,包括:

第一电路区段,所述第一电路区段为命令源;

第二电路区段,所述第二电路区段为所述命令的目标,并且所述第二电路区段将响应于所述命令的响应信号返回至所述第一电路区段;以及

错误响应电路,所述错误响应电路对所述命令进行分析并且检测所述第一电路区段与所述第二电路区段之间的数据传输的状态,所述错误响应电路依照所述数据传输的状态、响应于所述第二电路区段从第一功耗状态改变至第二功耗状态来生成错误信号,并且将所述错误信号而不是所述响应信号传送至所述第一电路区段,在所述第二功耗状态中的功耗小于在所述第一功耗状态中的功耗。

7.根据权利要求6所述的半导体集成电路,其中,当在所述第一电路区段与所述第二电路区段之间的数据传输期间所述第二电路区段改变至所述第二功耗状态时,所述错误响应电路生成所述错误信号。

8.根据权利要求6或7所述的半导体集成电路,其中,当所述第二电路区段处于所述第二功耗状态并且所述第一电路区段开始数据传输时,所述错误响应电路生成所述错误信号。

9.根据权利要求6所述的半导体集成电路,其中,当所述第二电路区段从所述第二功耗状态返回至所述第一功耗状态时,所述错误响应电路依照所述第二电路区段处于所述第二功耗状态时所述数据传输的状态将所生成的错误信号传送至所述第一电路区段,并且之后,执行切换以使得由所述第二电路区段所生成的所述响应信号被传送至所述第一电路区段。

10.根据权利要求6所述的半导体集成电路,其中,当在所述第一电路区段与所述第二电路区段之间的数据传输期间所述第二电路区段改变至所述第二功耗状态时,所述错误响应电路生成用于临时推迟所述数据传输的等待,并且之后,生成所述错误信号。

11.一种数据传输控制方法,其包括:

对从第一电路区段传送至第二电路区段的命令进行分析,并且检测所述第一电路区段与所述第二电路区段之间的数据传输的状态;

依照所检测到的所述数据传输的状态、响应于所述第二电路区段从第一功耗状态改变至第二功耗状态来生成错误信号,在所述第二功耗状态中的功耗低于在所述第一功耗状态中的功耗;以及

将所述错误信号而不是响应信号传送至所述第一电路区段,所述响应信号响应于所述命令并且被从所述第二电路区段传送至所述第一电路区段。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通半导体股份有限公司,未经富士通半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310090628.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top