[发明专利]弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪

权利要求书

1.弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：包括扫描反射镜(1)、入射光瞳(2)、离轴三反望远镜、视场光阑(5)、弹光调制型干涉仪；其中：离轴三反望远镜包括球面镜(3)和一对非球面镜(4、6)；弹光调制型干涉仪包括起偏器(7)、静态双折射晶体(8)、弹光调制器(9)、检偏器(11)、成像反射镜(12)及探测器(13)，其中：弹光调制器(9)又包括压电石英驱动器、弹光晶体及高反射率膜；来自目标的入射光线经扫描反射镜反射后，经入射光瞳选择一定视场角范围的光进入离轴三反望远镜，光线经离轴三反望远镜反射、聚焦、缩束并准直后进入弹光调制干涉仪进行双折射干涉调制：弹光调制干涉仪的起偏器和检偏器对入射光进行起偏，然后由静态双折射晶体产生特定大小的静态光程差，再由弹光调制器对入射的偏振光进行人工双折射干涉调制，产生干涉条纹，最后成像反射镜将调制后的干涉光聚焦至探测器的光敏面处完成光谱成像。

2.根据权利要求1所述的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：经过离轴三反望远镜后的光束为平行光、或为发散光、或为会聚光。

3.根据权利要求1所述的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：该弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪中除入射光瞳和视场光阑外，各个光学元件均采用全反射式光学元件，并且均镀制高反射率膜。

4.根据权利要求1所述的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：所述的扫描反射镜为平面镜，对目标进行逐点扫描。

5.根据权利要求1所述的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：所述的成像反射镜是球面反射镜或离轴抛物面反射镜，或是前述两种反射镜组合形成的成像反射镜组。

6.根据权利要求1所述的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：所述的弹光晶体前后通光表面镀制的高反射率膜是交错对称的。

7.根据权利要求1所述的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：所述的静态双折射晶体的通光方向为晶体的光轴方向，其产生的静态光程差大于或等于弹光调制器调制光程差。

8.根据权利要求1所述的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：所述的探测器可以是阵列探测器，或是点探测器，放置于反射成像镜的焦点处。

9.根据权利要求1所述的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：所述的起偏器与检偏器相互正交放置，并分别与弹光调制器成±45°夹角。

10.根据权利要求1所述的弹光调制型傅里叶变换干涉成像光谱仪，其特征在于：所述的扫描反射镜的扫描速率与弹光调制干涉仪的调制速率匹配。