[发明专利]单管式化学发光分析仪的计量标准器及使用方法

权利要求书

1.一种用于单管式化学发光分析仪的计量标准器，其特征在于：包括干涉滤光片（5）、光谱中性滤光片（6）和由光具支架（1）、氚光源（2）、光衰减片（3）、固定卡环（4）组成的光具座，氚光源（2）和光衰减片（3）自下而上顺序安装在光具支架（1）的腔体内，并通过固定卡环（4）固定在腔体底部，干涉滤光片（5）与光衰减片（3）同轴向安装在固定卡环（4）上方，光谱中性滤光片（6）与光衰减片（3）同轴向安装在干涉滤光片（5）上方。

2.根据权利要求1所述的用于单管式化学发光分析仪的计量标准器，其特征在于：还包括固定环（51），所述干涉滤光片（5）或光谱中性滤光片（6）固定在固定环（51）的内侧壁上，固定环（51）的侧壁外径与光具支架（1）的腔体的侧壁内径相同。

3.根据权利要求1或2所述的用于单管式化学发光分析仪的计量标准器，其特征在于：所述干涉滤光片（5）的干涉波长为405nm，或425nm，或620nm。

4.根据权利要求1至3任一所述的用于单管式化学发光分析仪的计量标准器，其特征在于：所述光谱中性滤光片（6）的透射比为100%，或70%，或50%，或30%。

5.根据权利要求4所述的用于单管式化学发光分析仪的计量标准器，其特征在于：所述氚光源（2）中使用固体氚盐或氚气。

6.利用权利要求1至5任一所述的计量标准器对单管式化学发光分析仪进行计量性能指标测定的方法，其特征在于包括以下步骤：

步骤一，选择与待测仪器敏感波长相应的干涉滤光片（5）和100%透射比滤光片，装入光具座；

步骤二，使用待测仪器测定此时的完全发光强度I₀；

步骤三，选择一个透射比的光谱中性滤光片（6），装入光具座；

步骤四，使用待测仪器测定此时的透射发光强度I，比较完全发光强度I₀和透射发光强度I，求得实际透射比T，

步骤五，更换不同透射比的光谱中性滤光片（6），重复步骤四；

步骤六，通过各光谱中性滤光片（6）的实际透射比T和相应光谱中性滤光片（6）的透射比标准值T_S比较，求得待测仪器的准确度。

7.根据权利要求1至5任一所述的计量标准器对单管式化学发光分析仪进行计量性能指标测定的方法，其特征在于包括以下步骤：

步骤一，选择与待测仪器敏感波长相应的干涉滤光片（5）和100%透射比滤光片，装入光具座；

步骤二，使用待测仪器测定此时的完全发光强度I₀；

步骤三，重复五次步骤二，求得完全发光强度I₀的平均值，计算平均值的相对标准偏差作为待测仪器重复性表征参数。

8.根据权利要求1至5任一所述的计量标准器对单管式化学发光分析仪进行计量性能指标测定的方法，其特征在于包括以下步骤：

步骤一，选择与待测仪器敏感波长相应的干涉滤光片（5）和100%透射比滤光片，装入光具座；

步骤二，使用待测仪器测定此时的完全发光强度I₀；

步骤三，移除计量标准器，使用单管式化学发光分析仪测定背景信号I_N，与完全发光强度I₀比较，求得仪器灵敏度的信噪比。