[发明专利]X 射线探测器和用于保持X 射线探测器的温度恒定的方法

权利要求书

1.一种用于保持CT系统（C1）的X射线探测器的至少一个探测器元件（1，1.1－1.20）的温度恒定的方法，其中，所述探测器元件（1，1.1－1.20）采用传感器材料（2），该传感器材料将辐射的入射的光子直接转换为在所述传感器材料（2）中自由运动的电荷（I），并且其中，借助第一电路装置，特别是ASIC（6）关于预定的能量范围，特别是为了成像，来确定入射的光子的数量，其特征在于，独立于辐射（γ）的入射强度保持至少一个探测器元件（1，1.1－1.20）的总的电功率恒定。

2.根据上述权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述第一电路装置（6）中或上布置产生热的第二电路装置（4），其中，借助控制器依据第一电路装置（6）和/或至少一个探测器元件（1，1.1－1.20）的传感器材料（2）的功率消耗，这样控制至少一个探测器元件（1，1.1－1.20）的产生热的第二电路装置（4）的功率，使得至少一个探测器元件（1，1.1－1.20）的总的电功率保持恒定。

3.根据上述权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，为了保持总的电功率恒定，基于入射的光子的数量和/或能量采用模型预测的调节。

4.根据上述权利要求1或3中任一项所述的方法，其特征在于，为了保持至少一个探测器元件（1，1.1－1.20）的总共消耗的电功率恒定，采用至少一个可变地可调节的加热元件（4）。

5.根据上述权利要求4所述的方法，其特征在于，将所述至少一个可变地可调节的加热元件（4）布置在第一电路装置中或上，特别是布置在ASIC（6）上。

6.根据上述权利要求4或5中任一项所述的方法，其特征在于，通过至少一个可变地可调节的加热元件（4）输出ASIC的预定参考功率的在ASIC（6）中不消耗的份额。

7.根据上述权利要求6所述的方法，其特征在于，所述预定参考功率超过最大功率的50%、优选在最大功率的70%至100%的范围内、优选最大功率的80%至100%，优选最大功率的80%至90%。

8.根据上述权利要求3至5中任一项所述的方法，其特征在于，附加地通过至少一个可变地可调节的加热元件（4），补偿相对于在预定的辐射强度的情况下在那里出现的电流（I）而没在传感器材料中出现的电流。

9.根据上述权利要求8所述的方法，其特征在于，所述预定的辐射强度超过最大入射的辐射强度的50%，优选在最大入射的辐射强度的70%至100%的范围内，优选最大入射的辐射强度的80%至100%，优选最大入射的辐射强度的80%至90%。

10.根据上述权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，对于改变的且待补偿的热输入（W₁）关于在至少一个探测器元件（1，1.1－1.20）中的至少一个热产生元件（4）使用入射的辐射强度作为测量参数。

11.根据上述权利要求10所述的方法，其特征在于，对于入射的辐射强度，使用通过电路装置所确定的计数率作为测量参数。

12.根据上述权利要求10所述的方法，其特征在于，对于入射的辐射强度，测量并使用通过在传感器材料（2）中的辐射感应出的电流（I）作为测量参数。

13.根据上述权利要求1至12中任一项所述的方法，其特征在于，通过多个探测器元件（1，1.1－1.20）平均地保持电功率恒定。

14.根据上述权利要求1至12中任一项所述的方法，其特征在于，单独地对于每个探测器元件（1，1.1－1.20）保持电功率的恒定。

15.根据上述权利要求1至14中任一项所述的方法，其特征在于，附加地在至少一个探测器元件（1，1.1－1.20）中实施温度测量，并且通过该温度测量进行温度的附加地调整，其中，温度调节的时间常数比总功率调节的时间常数更长。

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，通过模型预测的调节进行温度的附加调节。

17.根据上述权利要求1至16中任一项所述的方法，其特征在于，执行至少在探测器运行期间总是以相同的功率工作的热排出。