[发明专利]一种带V形缺口回转件转动角度的信号采集方法有效

专利信息
申请号: 201310099287.3 申请日: 2013-03-26
公开(公告)号: CN103206916A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 李利歌;李副来;李国斌 申请(专利权)人: 洛阳轴研科技股份有限公司
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30
代理公司: 洛阳市凯旋专利事务所 41112 代理人: 符继超
地址: 471039 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 缺口 回转 转动 角度 信号 采集 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于转动角度监测技术领域,尤其是一种带V形缺口回转件转动角度的信号采集方法。

 

背景技术

随着机械行业的高速发展,对带V形缺口回转件的转动角度精度要求越来越高。对整圆回转件的转动角度监测是把圆磁栅套装在整圆回转件的外圈上,采用一个磁栅传感器对圆磁栅进行监测,而对带V形缺口回转件而言,由于在V形缺口处无法安装整圈圆磁栅,磁栅传感器就不能检测到V形缺口处的转动角度,因此对带V形缺口回转件的转动角度监测必须采取其它方式来解决,截止目前带V形缺口回转件转动角度的信号采集方法未见相关报道。

 

发明内容

为解决带V形缺口回转件的转动角度监测问题,本发明提供了一种带V形缺口回转件转动角度的信号采集方法,该信号采集方法通过两个对称配置且具有互补作用的磁栅传感器来对粘贴在带V形缺口回转件上的磁栅标尺进行信号采集,从而解决了带V形缺口回转件的转动角度监测,信号采集准确可靠,对计算机控制带V形缺口回转件的转动角度具有很大协助作用。

为实现上述发明目的,本发明采用如下技术方案:

一种带V形缺口回转件转动角度的信号采集方法,设定V形缺口回转件的V形缺口区域称为盲区,除盲区之外的区域称为有效区,所述有效区的外径周长设定为L1,盲区的外径周长设定为L2,L1+ L2=L,L 是V形缺口回转件的外径总周长,从V形缺口回转件的转动轴心算起:L1所对应的扇形角度>180°,L2所对应的扇形角度<180°,L所对应的回转圆=360°,假定L1所对应的扇形角度=270°,则L2所对应的扇形角度=90°;在所述有效区的外径边上粘贴有周长为L1的磁栅标尺,磁栅标尺上标记有刻度线,相邻所述刻度线之间所对应的角度为0.1°,从0°起经过0.1°、0.2°…269.8°、269.9°到270°止,在磁栅标尺旁对称配置主定位器和辅定位器,主定位器固定主磁栅传感器,辅定位器固定辅磁栅传感器,主磁栅传感器和辅磁栅传感器形成180°对称配置,当V形缺口回转件绕轴心无论是处于停机位还是转停位,主磁栅传感器和辅磁栅传感器相对磁栅标尺的位置存在以下三种情况:

⑴   当所述停机位时主磁栅传感器和辅磁栅传感器同时对应于磁栅标尺,而当所述转停位时:①或主磁栅传感器和辅磁栅传感器同时对应于磁栅标尺,②或主磁栅传感器对应于磁栅标尺而辅磁栅传感器对应于盲区,③或主磁栅传感器对应于盲区而辅磁栅传感器对应于磁栅标尺;

⑵   当所述停机位时主磁栅传感器对应于磁栅标尺而辅磁栅传感器对应于盲区,而当所述转停位时:①或主磁栅传感器和辅磁栅传感器同时对应于磁栅标尺,②或主磁栅传感器对应于磁栅标尺而辅磁栅传感器对应于盲区,③或主磁栅传感器对应于盲区而辅磁栅传感器对应于磁栅标尺;

⑶   当所述停机位时主磁栅传感器对应于盲区而辅磁栅传感器对应于磁栅标尺,而当所述转停位时:①或主磁栅传感器和辅磁栅传感器同时对应于磁栅标尺,②或主磁栅传感器对应于磁栅标尺而辅磁栅传感器对应于盲区,③或主磁栅传感器对应于盲区而辅磁栅传感器对应于磁栅标尺。

本发明的特征是:

对于上述⑴的所述停机位时,先将主磁栅传感器对磁栅标尺所检测到的所述刻度线作为第一主信号进行采集并输入计算机中存储,同时将辅磁栅传感器对磁栅标尺所检测到的所述刻度线作为第一辅信号进行采集并输入计算机中存储;对于上述⑴的所述转停位时:

如果遇到①,主磁栅传感器对磁栅标尺所检测到的所述刻度线作为第二主信号进行采集并输入计算机中存储,而将辅磁栅传感器对磁栅标尺所检测到的所述刻度线作为第二辅信号进行采集并输入计算机中存储,计算机将第一主信号与第二主信号进行对比运算或是将第一辅信号与第二辅信号进行对比运算,第一主信号减去第二主信号的绝对值差就是V形缺口回转件绕轴心转动的主角度,第一辅信号减去第二辅信号的绝对值差也是V形缺口回转件绕轴心转动的辅角度。

如果遇到②,主磁栅传感器对磁栅标尺所检测到的所述刻度线作为第三主信号进行采集并输入计算机中存储,而辅磁栅传感器由于遭遇盲区不能采集信号,计算机将第一主信号与第三主信号进行对比运算,第一主信号减去第三主信号的绝对值差就是V形缺口回转件绕轴心转动的角度。

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