[发明专利]一种斜视条件下的机载干涉SAR定标方法有效

专利信息
申请号: 201310099786.2 申请日: 2013-03-26
公开(公告)号: CN103207388A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 王宇;梁兴东;丁赤飚 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 杨志兵;高燕燕
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 斜视 条件下 机载 干涉 sar 定标 方法
【权利要求书】:

1.一种斜视条件下的机载干涉SAR定标方法,其特征在于,包括:

步骤1:借助定标点的三维位置信息、运动补偿得到的主天线位置和姿态信息,计算定标点所在位置的斜视角;

步骤2:根据斜视SAR成像算法采用的处理几何,建立斜视条件下的系统延时定标方程,该延时定标方程中记载了定标点的三维位置信息、主天线位置、斜视角与系统延时的关系;利用步骤1得到的斜视角,完成系统延时的定标;

步骤3:根据干涉SAR斜视几何关系,建立斜视条件下的目标高程方程,并对干涉参数求偏导数得到高程敏感度方程,基于高程敏感度方程建立斜视干涉定标模型;

步骤4:借助初始干涉参数、机载干涉SAR高程测量值和定标点高程信息代入步骤3得到的斜视干涉定标模型,得到定标方程组,完成干涉参数误差的解算;所述初始干涉参数指已知的含有误差的干涉参数值。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所,未经中国科学院电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310099786.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top