[发明专利]一种测量参考节点位置的方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201310100380.1 申请日: 2013-03-26
公开(公告)号: CN104076325B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 周波;黄新华;杨艳 申请(专利权)人: 日电(中国)有限公司
主分类号: G01S5/00 分类号: G01S5/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 代理人: 张耀光
地址: 100191 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 参考 节点 位置 方法 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种用于测量参考节点位置的系统,其特征在于,所述系统包括:信号发射装置和信号接收装置;

所述信号发射装置安装在待测量的参考节点上;

所述信号接收装置沿第一坐标系的一坐标轴滑动,并在滑动时分多次接收所述信号发射装置发射的发射信号。

2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:

滑轨,所述滑轨与所述第一坐标系的一坐标轴重合,所述信号接收装置安装在所述滑轨上并在所述滑轨上滑动。

3.一种通过权利要求1或2所述的系统来测量参考节点位置的方法,其特征在于,所述方法包括:

当信号接收装置在第一坐标系的一坐标轴上滑动并分多次接收信号发射装置发射的发射信号时,获取所述信号接收装置每次接收所述发射信号时在所述第一坐标系中的位置以及在获取的每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离;

根据所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点在标准坐标系中的位置。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点在标准坐标系中的位置,包括:

根据所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点在所述第一坐标系中的位置;

根据所述第一坐标系中的位置与标准坐标系中的位置之间的转换关系,将所述待测量的参考节点在所述第一坐标系中的位置转换为在所述标准坐标系中的位置。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点在所述第一坐标系中的位置,包括:

根据所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点的位置;

如果获取到一个位置,则将获取的一个位置确定为所述待测量的参考节点在所述第一坐标系中的位置;

如果获取到多个位置,则计算获取的多个位置的平均位置,将所述平均位置确定为所述待测量的参考节点在所述第一坐标系中的位置。

6.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取在获取的每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,包括:

预先设置所述信号发射装置发送的所述发射信号和所述发射信号对应的发射时间,并记录所述发射信号和所述发射时间的对应关系;

获取所述信号接收装置接收所述发射信号的接收时间;

从所述发射信号和发射时间的对应关系中获取所述发射信号对应的发射时间;

根据预设信号传输速度、所述接收时间和所述获取的发射时间,计算在所述位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离。

7.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取在获取的每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,包括:

设置同步信号,使所述信号发射装置和所述信号接收装置接收到所述同步信号,且所述信号发射装置在接收到所述同步信号时发射所述发射信号;

获取所述信号接收装置接收所述发射信号的接收时间;

获取所述信号接收装置接收所述同步信号的时间,将所述信号接收装置接收所述同步信号的时间作为发射时间;

根据预设信号传输速度、所述接收时间和所述发射时间,计算在所述位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离。

8.一种通过权利要求1或2所述的系统来测量参考节点位置的装置,其特征在于,所述装置包括:

第一获取模块,用于当信号接收装置在第一坐标系的一坐标轴上滑动并分多次接收信号发射装置发射的发射信号时,获取所述信号接收装置每次接收所述发射信号时在所述第一坐标系中的位置以及在获取的每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离;

第二获取模块,用于根据所述第一获取模块获取的所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点在标准坐标系中的位置。

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