[发明专利]对于双源CT设备具有散射校正的用于重建CT图像的方法有效
申请号: | 201310100993.5 | 申请日: | 2013-03-27 |
公开(公告)号: | CN103356222A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | M.彼得希尔卡;K.斯蒂尔斯托弗 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G06T5/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 谢强 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 对于 ct 设备 具有 散射 校正 用于 重建 图像 方法 | ||
1.一种用于从测量数据(p)中重建检查对象(O)的图像数据(PIC1)的方法,其中,
在计算机断层造影系统(C1)的射线源(C2,C4)与检查对象(O)之间相对旋转运动的情况下采集(MEAS)所述测量数据(p),
从所述测量数据(p)中重建检查对象(O)的第一图像数据(PIC0),
从所述第一图像数据(PIC0)中在使用散射模型(MOD)的条件下计算散射信号(STREU),
其中,所述散射模型(MOD)对于散射点,取决于与散射的射线从散射点到特定的检测器元件的衰减积分相应的线积分,说明了取决于角度的散射分布,
将所计算的散射信号(STREU)用于校正(KOR)测量数据(p),
在使用校正后的测量数据(p)的条件下重建第二图像数据(PIC1)。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,
所述特定的检测器元件是散射的射线与之垂直的检测器元件。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,
为了计算所述散射信号(STREU),对于检测器元件,对检查对象(O)的每个散射点在使用第一图像数据(PIC0)的条件下计算线积分,所述线积分相应于射线从各自的散射点到各自的检测器元件的衰减积分,并且与散射模型(MOD)的取决于角度的散射分布对应。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,
为了计算所述散射信号(STREU),对于检测器元件,将检查对象(O)的多个散射点的散射分布的与检测器元件相关的份额相加。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,
在相加时根据在散射点和检测器元件之间的各自的距离进行加权。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其中,
在使用模型式的检查对象的条件下确定所述散射模型(MOD)。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,
所述模型式的检查对象是充水的圆柱体。
8.根据权利要求6或7所述的方法,其中,
在使用蒙特卡洛仿真的条件下进行所述散射模型(MOD)的确定。
9.根据权利要求6或7所述的方法,其中,
在使用在模型式的检查对象上的测量的条件下进行所述散射模型(MOD)的确定。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法,其中,
从第二图像数据(PIC1)中在使用所述散射模型(MOD)的条件下计算散射信号(STREU),
将所计算的散射信号(STREU)用于校正测量数据(p),并且
在使用校正后的测量数据(p)的条件下重建第三图像数据。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的方法,其中,
按照所述散射模型(MOD),取决于角度的散射分布还取决于:
-在落入散射点的射线和至特定的检测器元件散射的射线之间的角度,和/或
-在由射线源(C2,C4)发射的射线束内部落入散射点的射线的扇形角度,和/或
-在检测器内部的特定的检测器元件的扇形角度,和/或
-在至特定的检测器元件散射的射线和垂直于检测器(C3,C5)的中心的射线之间的角度,和/或
-相应于落入散射点的射线直到散射点的衰减积分的线积分,和/或
-在相应于散射的射线从散射点到特定的检测器元件的衰减积分的线积分,和相应于散射的射线从散射点到另一个检测器元件的衰减积分的线积分之间的关系,和/或
-按照第一图像数据(PIC0)的散射点的衰减值,和/或
-按照第一图像数据(PIC0)的围绕散射点的物质的至少一个衰减值。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的方法,其中,
在第一射线源(C2)与检查对象(O)之间和在第二射线源(C4)与检查对象(O)之间同时相对旋转运动的情况下采集所述测量数据(p),
并且关于与各自的射线源(C2,C4)对应的两个检测器(C3,C5)计算所述散射信号(STREU)。
13.一种计算单元(C10),用于从CT系统(C1)的测量数据(p)中重建检查对象(O)的图像数据(PIC1),具有用于执行按照权利要求1至12中任一项所述方法的部件。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子公司,未经西门子公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310100993.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。