[发明专利]一种可挠投射电容式触控面板的触控检测方法无效
| 申请号： | 201310100994.X | 申请日： | 2013-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN103218096A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 刘人瑞 | 申请（专利权）人： | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 投射 电容 式触控 面板 检测 方法 | ||
1.一种可挠投射电容式触控面板的触控检测方法，其特征在于，该触控检测方法包括以下步骤：
按压或挠曲一投射电容式触控面板；
侦测所述投射电容式触控面板的电容变化值；
将所述电容变化值转换为一触控输入信号；以及
根据所述触控输入信号，输出相应的控制信号。
2.根据权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，所述电容变化值呈现点状变化时，所述控制信号为一触控指令。
3.根据权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，所述电容变化值呈现线状变化时，所述控制信号为一挠曲指令。
4.根据权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，所述电容变化值同时呈现点状变化和线状变化时，所述控制信号为一触控指令与挠曲指令的混合信号。
5.根据权利要求3或4所述的触控检测方法，其特征在于，所述电容变化值为所述投射电容式触控面板挠曲后的总电容值的变化量。
6.根据权利要求3或4所述的触控检测方法，其特征在于，所述电容变化值为所述投射电容式触控面板挠曲后的电容自感值（self capacitance）的变化量。
7.根据权利要求3或4所述的触控检测方法，其特征在于，所述电容变化值为所述投射电容式触控面板挠曲后的电容互感值（mutual capacitance）的变化量。
8.根据权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，该触控检测方法还包括：
所述控制信号根据所述投射电容式触控面板的挠曲角度来调整视窗的移动速度。
9.根据权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，该触控检测方法还包括：
所述控制信号根据所述投射电容式触控面板的挠曲面积来调整视窗的缩放比例。
10.根据权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，该触控检测方法还包括：
所述控制信号根据所述投射电容式触控面板的挠曲状态或摊平状态来控制所述触控面板的工作模式。
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