[发明专利]双调显影用光掩模在审
申请号: | 201310103910.8 | 申请日: | 2013-03-28 |
公开(公告)号: | CN104035273A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 张宜翔;林嘉祺;林鸿铭 | 申请(专利权)人: | 力晶科技股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/30 | 分类号: | G03F1/30 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 显影 用光 | ||
1.一种双调显影用光掩模,其包括:
开口图案区,包括多个透光图案与多个不透光图案,且由该些透光图案与该些不透光图案于一双调显影用光致抗蚀剂中定义出多个开口图案;以及
不完全透光图案,围绕该开口图案区。
2.如权利要求1所述的双调显影用光掩模,其中该些透光图案是以二维阵列的方式排列,且该些不透光图案是以网状排列并且包围各该透光图案。
3.如权利要求1所述的双调显影用光掩模,其中该些不透光图案是以二维阵列的方式排列,且该些透光图案是以网状排列并且包围各该不透光图案。
4.如权利要求1所述的双调显影用光掩模,还包括一护环图案,至少围绕部分的该不完全透光图案。
5.如权利要求4所述的双调显影用光掩模,其中该护环图案为透光或不透光。
6.如权利要求2所述的双调显影用光掩模,该双调显影用光致抗蚀剂的该些开口图案的间距为该双调显影用光掩模的该些透光图案的间距的50%至75%。
7.如权利要求3所述的双调显影用光掩模,该双调显影用光致抗蚀剂的该些开口图案的间距为该双调显影用光掩模的该些不透光图案的间距的50%至75%。
8.如权利要求1所述的双调显影用光掩模,其中该些透光图案与该些不透光图案是以一维阵列的方式交错排列并且连续无间隔。
9.如权利要求8所述的双调显影用光掩模,其中各该透光图案的宽度与各该不透光图案的宽度的比为1:1至7:1。
10.如权利要求8所述的双调显影用光掩模,其中各该透光图案的宽度与各该不透光图案的宽度的比为1:1至1:7。
11.如权利要求9所述的双调显影用光掩模,该双调显影用光致抗蚀剂的该些开口图案的间距为该双调显影用光掩模的该些不透光图案的间距的50%至75%。
12.如权利要求10所述的双调显影用光掩模,该双调显影用光致抗蚀剂的该些开口图案的间距为该双调显影用光掩模的该些透光图案的间距的50%至75%。
13.如权利要求8所述的双调显影用光掩模,还包括一隔离区开口图案,位于一隔离区中。
14.如权利要求1所述的双调显影用光掩模,其中该不完全透光图案包括光栅或不完全透光材料。
15.如权利要求1所述的双调显影用光掩模,其中该些开口图案包括接触孔图案。
16.如权利要求1所述的双调显影用光掩模,其中当该些透光图案与该些不透光图案以至少一列的方式排列时,位于同一列上的该些透光图案与该些不透光图案为交错排列且间隔一定距离,相邻的各该透光图案与各该不透光图案之间包含该不完全透光图案。
17.如权利要求16所述的双调显影用光掩模,其中位于不同列上的该些透光图案与该些不透光图案为交错排列或相互对齐。
18.如权利要求17所述的双调显影用光掩模,当不同列上的该些透光图案与该些不透光图案为相互对齐时,位于不同列上的该些透光图案相互对齐、位于不同列上的该些不透光图案相互对齐、或位于一列上的该些透光图案与位于另一列上的该些不透光图案相互对齐。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于力晶科技股份有限公司,未经力晶科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310103910.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备