[发明专利]电性测试装置

说明书

技术领域

本发明关于一种电性测试装置，特别是关于一种测量低电感值的待测装置的电性测试装置。

背景技术

随着科技的进步，电子元件越来越多样化。为了确保电子元件的品质，一般厂商往往会在出厂前完成电子元件的各种检验与测试。举例来说，电感器、马达与线圈是常见的具电感特性的电子元件，在品质检验时通常会进行层间耐压测试(layer short test)的程序。所述层间耐压测试一般是指同组线圈与线圈之间的耐压测试，以期找出已经短路或已经有瑕疵的电感特性的电子元件，避免装设所述电子元件的产品于使用过程发生故障。

然而，在以自动化测试设备进行待测装置时层间耐压测试时，所述测试设备往往无法紧邻地设置于待测装置周围，必须以缆线连接测试设备与待测装置。当待测装置的电感值过低(即业界所述的低感量)，则缆线的感抗将造成明显的测试误差。以实际的例子来说，一个电感值约1uH电感器若连接上1公尺的缆线，其谐振频率差异将可能由1MHz变化至1.5MHz。

明显地，业界需要一种新的电性测试装置，所述电性测试装置能避免缆线的感抗干扰层间耐压测试的结果，特别是能有效改善缆线在进行低感量待测装置的层间耐压测试时所产生的干扰。

发明内容

有鉴于此，本发明在于提出一种电性测试装置，藉由新的电路设计让待测装置紧邻谐振电路模块，使得缆线的感抗不出现在待测装置的谐振路径中，从而能避免缆线的感抗干扰层间耐压测试的结果。

本发明实施例提供一种电性测试装置，包括电源供应模块、壳体、电力传输线以及谐振电路模块。电源供应模块用以选择性地输出测试电压。壳体包围覆盖电源供应模块。电力传输线具有第一端头与第二端头，第一端头耦接电源供应模块，电力传输线用以传输测试电压，且至少部分的电力传输线露出于壳体外。谐振电路模块露出于壳体外并耦接电力传输线的第二端头，且谐振电路模块至少具有一个电容，所述电容选择性地耦接待测装置。

于本发明一示范实施例中，所述电性测试装置更包括测量模块以及控制模块。测量模块耦接谐振电路模块，至少用以测量谐振电路模块于接收测试电压时产生的电性信号。控制模块耦接测量模块与电源供应模块，依据电性信号以控制电源供应模块是否输出测试电压。

本发明另一实施例提供一种电性测试装置，包括电源供应模块、电力传输线以及谐振电路模块。电源供应模块用以选择性地输出测试电压。电力传输线具有第一端头与第二端头，第一端头耦接电源供应模块，电力传输线用以传输测试电压。谐振电路模块耦接电力传输线的第二端头，且谐振电路模块至少具有一个电容，所述电容选择性地耦接待测装置。在此，电力传输线的长度大于50公分。

综上所述，本发明实施例提供的电性测试装置，将电源供应模块与谐振电路模块设置电力传输线的两端，藉由让待测装置紧邻谐振电路模块的电路设计，使得电力传输线的感抗不出现在待测装置与谐振电路模块的谐振路径中，从而能避免电力传输线的感抗干扰层间耐压测试的结果。

为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，但是此等说明与所附图式仅用来说明本发明，而非对本发明的权利范围作任何的限制。

附图说明

图1绘示依据本发明一示范实施例的电性测试装置的功能方块图。

图2绘示依据本发明另一示范实施例的电性测试装置的功能方块图。

图3绘示依据本发明再一示范实施例的电性测试装置的电路示意图。【符号说明】

1：电性测试装置

10：电源供应模块

12：壳体

14：电力传输线

14a、14b：端头

16：谐振电路模块

20：待测装置

3：电性测试装置

30：电源供应模块

32：壳体

34：电力传输线

36：谐振电路模块

38：测量模块

40：控制模块

50：电源供应模块

500：电源

502、504：二极管

52：电力传输线

54：谐振电路模块

R1～R4：电阻

C1、C2：电容

Q1：开关元件

具体实施方式