[发明专利]胶层厚度测量方法有效
| 申请号： | 201310109757.X | 申请日： | 2013-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN103217137A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 李禹 | 申请（专利权）人： | 东莞市三文光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 田利琼 |
| 地址： | 523826*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 厚度 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种胶层厚度测量方法，其特征在于：所述测量方法包括以下步骤：
（1）、取出部分原膜，把所述原膜裁剪为原膜片；
（2）、把所述原膜片粘附于离型纸或离型膜带胶表面；
（3）、扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片；
（4）、测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，得到胶层厚度。
2.如权利要求1所述的胶层厚度测量方法，其特征在于：所述原膜为厚度为80um～120um的PET原膜。
3.如权利要求1所述的胶层厚度测量方法，其特征在于：所述原膜片的宽度为15mm～25mm，所述原膜片的长度为80mm～120mm。
4.如权利要求2所述的胶层厚度测量方法，其特征在于：所述PET原膜的厚度为100um。
5.如权利要求3所述的胶层厚度测量方法，其特征在于：所述原膜片的宽度为20mm，所述原膜片的长度为100mm。
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