[发明专利]芯片筛选测试机及其测试方法

权利要求书

1.筛选测试机，包括微控制单元，其特征在于，还包括连接在所述微控制单元上的多个测试电路；所述测试电路包括限流电阻R、ADC和DAC，所述限流电阻R连接至ADC输入端和DAC输出端 ，所述ADC输出端连接所述微控制单元，所述DAC输入端连接所述微控制单元；所述限流电阻R连接被测试芯片的管脚；

所述微控制单元分别对目标芯片和测试芯片的管脚输入脉冲激励信号，得到目标芯片在脉冲激励信号下的第一响应曲线，和测试芯片在脉冲激励信号下的第二响应曲线；

所述微控制单元通过比较第一响应曲线和第二响应曲线的差异，判断所述目标芯片和测试芯片是否存的复阻抗差异。

2.根据权利要求1所述的芯片筛选测试机，其特征在于，所述目标芯片或者测试芯片输入脉冲激励信号的测试电路中，所述DAC的输入端用于输入脉冲激励信号，所述ADC的输出端在所述微控制单元的控制下处于不工作的状态；所述目标芯片或者测试芯片采样信号的测试电路中，所述DAC的输入端在所述微控制单元的控制下不工作，所述ADC用于输出采样信号。

3.根据权利要求2所述的芯片筛选测试机，其特征在于，所述第一响应曲线包括目标芯片所有管脚循环交叉输入脉冲激励信号的采样信号，包括多条响应曲线；所述第二响应曲线包括测试芯片所有管脚循环交叉输入脉冲激励信号的采样信号，包括多条响应曲线。

4.根据权利要求3所述的芯片筛选测试机，其特征在于，所述脉冲激励信号包括用脉宽为700us、1ms、10ms的脉冲激励信号。

5.芯片筛选测试机的测试方法，通过比对目标芯片的第一响应曲线和测试芯片的第二响应曲线，判断所述测试芯片是否是异常芯片，具体包括以下步骤：

将芯片筛选测试机的测试电路的限流电阻R连接至目标芯片管脚；输出脉冲激励信号的测试电路， DAC的输入端同微控制单元连接用于输入脉冲激励信号， ADC输出端同所述微控制单元连接，所述ADC的输出端在所述微控制单元的控制下处于不工作的状态；采集取样信号的测试电路中， DAC的输入端同所述微控制单元连接，在所述微控制单元的控制下处于不工作的状态， ADC输出端同微控制单元连接并向所述微控制单元输出采样信号；

所述目标芯片在采集取样信号的测试电路中得到响应曲线；

循环交叉对所述目标芯片的管脚输入脉冲激励信号，所述微控制单元从采样信号的测试电路中得到多条响应曲线，所述多条响应曲线构成第一响应曲线； 

将芯片筛选测试机测试电路的限流电阻R连接至测试芯片的管脚；输出脉冲激励信号的测试电路， DAC的输入端同微控制单元连接用于输入脉冲激励信号， ADC输出端同所述微控制单元连接，ADC在所述微控制单元的控制下处于不工作的状态；采集取样信号的测试电路中， DAC的输入端同所述微控制单元连接，DAC在所述微控制单元的控制下处于不同做的状态， ADC输出端同微控制单元连接并向所述微控制单元输出取样信号；

所述测试芯片在采集取样信号的测试电路中得到响应曲线；

循环交叉对所述测试芯片的所有管脚输入脉冲激励信号，得到多条响应曲线，所述多条响应曲线构成第二响应曲线；

所述芯片筛选测试机的微控制单元比较第一响应曲线和第二响应曲线，判断所述目标芯片和测试芯片是否存的复阻抗差异。

6.根据权利要求5所述的芯片筛选测试机的测试方法，其特征在于，所述脉冲激励信号包括用脉宽为700us、1ms、10ms 的脉冲激励信号。