[发明专利]开关电容型比较器的失调校正电路和方法有效
申请号: | 201310111112.X | 申请日: | 2013-04-01 |
公开(公告)号: | CN103152044B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | 殷秀梅;张弛 | 申请(专利权)人: | 昆腾微电子股份有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100195 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 开关 电容 比较 失调 校正 电路 方法 | ||
1.一种开关电容型比较器的失调校正电路,其中:
所述开关电容型比较器的差分输入电路包括:
第一开关电容,用于接收参考电压信号;
第二开关电容,用于接收正输入电压信号;
第三开关电容,用于接收负输入电压信号;
第四开关电容,用于接收正负参考电压信号;
所述失调校正电路包括:
均值模块,输入端与所述开关电容型比较器的输出端连接;
补偿模块,输入端与所述均值模块的输出端连接,输出端与所述开关电容型比较器连接;
其特征在于,所述失调校正电路还包括:
第一短路开关,一端连接在所述第一开关电容的开关和电容之间,另一端连接在所述第二开关电容的开关和电容之间;
第二短路开关,一端连接在所述第三开关电容的开关和电容之间,另一端连接在所述第四开关电容的开关和电容之间。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,当所述开关电容型比较器处于校正模式时,所述第一开关电容的开关、所述第二开关电容的开关、所述第三开关电容的开关和所述第四开关电容的开关断开,所述第一短路开关和所述第二短路开关闭合。
3.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,所述第一短路开关和所述第二短路开关的闭合时间长度为预定时间长度。
4.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,所述补偿模块还用于根据所述均值模块输出的平均数,生成补偿结束指令;
所述第一短路开关和所述第二短路开关根据所述补偿结束指令断开。
5.一种开关电容型比较器的失调校正方法,其中:
所述开关电容型比较器的差分输入电路包括:
第一开关电容,用于接收负参考电压信号;
第二开关电容,用于接收正输入电压信号;
第三开关电容,用于接收负输入电压信号;
第四开关电容,用于接收正参考电压信号;所述失调校正方法包括:
计算所述开关电容型比较器输出的数字信号的平均数;
根据所述平均数,生成对所述开关电容型比较器的失调电压的补偿值,将所述补偿值发送给所述开关电容型比较器;
其特征在于,所述失调校正方法还包括:
提供第一短路开关和第二短路开关,其中,所述第一短路开关的一端连接在所述第一开关电容的开关和电容之间,所述第一短路开关的另一端连接在所述第二开关电容的开关和电容之间,所述第二短路开关的一端连接在所述第三开关电容的开关和电容之间,所述第二短路开关的另一端连接在所述第四开关电容的开关和电容之间。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,当所述开关电容型比较器处于校正模式时,所述第一开关电容的开关、所述第二开关电容的开关、所述第三开关电容的开关和所述第四开关电容的开关断开,所述第一短路开关和所述第二短路开关闭合。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述第一短路开关和所述第二短路开关的闭合时间长度为预定时间长度。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括:
根据所述平均数,生成补偿结束指令;
所述第一短路开关和所述第二短路开关根据所述补偿结束指令断开。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆腾微电子股份有限公司,未经昆腾微电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310111112.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:加工放电极线管异型孔的模具
- 下一篇:具有自清洁功能的光电开关