[发明专利]放射线成像装置、放射线成像系统和控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于医疗诊断和工业无损测试的放射线成像装置和放射线成像系统，以及用于放射线成像装置的控制方法。本发明特别涉及凭借其能够检测放射线照射的存在或不存在（比如来自放射线生成装置的放射线照射的开始或结束）的放射线成像装置和放射线成像系统，以及用于放射线成像装置的控制方法。

背景技术

使用平板检测器（将简称为FPD）的放射线成像装置与放射线生成装置的放射线照射同步地执行成像操作。如在国际公布第WO2000/06582号中提出的，以下技术可用作用于此同步的技术。在开关元件的导通状态和非导通状态被切换的同时，检测到流过其中偏置被供应给转换元件的偏置布线的电流，从而检测到放射线生成装置的放射线照射。放射线成像装置的操作是根据检测结果来控制的。根据此同步技术，如在日本专利特开第2010-268171号中提出的，可能出现这样的问题：在切换开关元件的导通状态和非导通状态时所生成的噪声影响了流过其中偏置被供应给转换元件的布线的电流，从而降低了检测的精确度。为了减少此噪声的影响，日本专利特开第2010-268171号描述了如下建议。第一建议是在电流检测单元和偏置布线之间设置滤波器电路。第二建议是将采样保持电路设置到电流检测单元的输出端子并在切换开关元件的导通状态和非导通状态的定时处执行中断采样和保持的处理。第三建议是执行先前获得并存储在存储单元中的噪声波形与受噪声影响的电流的差分处理。第四建议是使将用于将开关元件设定为非导通状态的非导通电压供给某一行上的开关元件的定时与将用于将开关元件设定为导通状态的导通电压供给在另一行上的开关元件的定时对齐从而抵消噪声。

然而，为了以更高的即时性且还以高精确度检测放射线照射的存在或不存在，日本专利特开第2010-268171号的建议是不够的。根据第一建议，因为滤波器电路的频带限制是根据切换定时的定时而设定的，并且延迟被增大，所以出现检测即时性的问题。根据第二建议，因为在放射线照射在采样和保持的中断的期间开始的情况下，直到采样和保持的恢复为止才进行检测，所以出现检测即时性的问题。根据第三和第四建议，因为像素阵列中布线的电阻和电容的变化以及开关元件的特性和性能的变化引起像素阵列中噪声波形的变化，并且难以充分降低噪声影响，所以出现检测精确度的问题。

发明内容

根据本发明的一方面，提供了一种放射线成像装置，其包括：像素阵列，包括以矩阵方式布置的多个像素，在该像素阵列中，每个像素包括转换元件和开关元件，转换元件被配置为将放射线转换为电荷，开关元件被配置为传送基于该电荷的电信号；布置在像素阵列中的多个布线；以及检测单元，被配置为检测对像素阵列的放射线照射，其中，检测单元包括检测电路，该检测电路被配置为基于针对多个布线中的每个布线检测到的、流过多个布线的多个电流来检测对像素阵列的放射线照射。

根据本发明的各方面，能够提供可以以高即时性并且还以高精确度检测放射线照射的存在或不存在的放射线成像装置。

从参考附图对示例性实施例的以下描述中，本发明的更多特征将变得清楚。

附图说明

图1A是放射线成像装置和系统的示意图，图1B是根据第一示例性实施例的针对一个像素的放射线成像装置的示意性等效电路图。

图2A和图2B是根据第一示例性实施例的放射线成像装置的示意性等效电路图。

图3A和图3B是电流检测电路和检测电路的示意性等效电路图。

图4A和图4B是电流检测电路和检测电路的示意性等效电路图。

图5是根据第一示例性实施例的放射线成像装置的时序图。

图6是根据第二示例性实施例的放射线成像装置的示意性等效电路图。

图7A和图7B是根据第三示例性实施例的放射线成像装置的示意性等效电路图。

图8A和图8B是根据第四示例性实施例的放射线成像装置的示意性等效电路图。

具体实施方式

以下，将参考附图来描述本发明的示例性实施例。本发明中的放射线包括α射线、β射线、γ射线等，其与由自放射线衰变释放出的粒子（含光子）构成的射束以及具有相当能量或更高能量的射束（比如X射线、粒子射线和宇宙射线）相对应。

第一示例性实施例