[发明专利]阵列式光学检测模块有效
申请号: | 201310113836.8 | 申请日: | 2013-04-03 |
公开(公告)号: | CN104101480B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | 颜泽询;李欣哲 | 申请(专利权)人: | 京元电子股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 光学 检测 模块 | ||
技术领域
本发明是关于一种阵列式光学检测模块,尤指一具有多个镜头搭配多个光源筒的阵列式光学检测模块。
背景技术
已知光学检测技术如中国台湾发明专利公告字号第M356906号的发明“用于测试影像感测芯片的探针测试装置”,其设计为单一灯光模块对应多个镜头,以进行对象光学检测。如文中所述,该发明由上而下依序包含有灯光模块、雾面滤镜、复阵列镜头固定模块、固定座、电路板以及探针固定模块。该电路板上分布着阵列式的多个窗口,该多个镜头固定模块被固定于该固定座处,每一个镜头固定模块的镜头组对应一个窗口,而探针固定模块则将数探针固定保持于电路板下方,由此当灯光模块产生光线后,经雾面滤镜使光线更为均匀分布,并使光线能通过镜头组聚焦投射至电路板下方的测试区域,提供影像感测芯片最佳的测试环境。
上述的发明存在一缺点,即其单一灯光模块若产生损坏,所有镜头检测即须停止测试,若更替灯光模块其费用亦相当昂贵。
发明人原因于此,本于积极发明发明的精神,亟思一种可以解决上述问题的“阵列式光学检测模块”,几经研究实验终至完成本发明。
发明内容
本发明的主要目的是在提供一种阵列式光学检测模块,是通过多个镜头对应多个光源筒以进行光学检测,以便能使单一光源筒损坏时,仅更换一光源筒即可,有别于先前单一光源的设计,可节省费用。
本发明的另一目的是在于镜头模块化的设计以使拆装维修更加迅速方便,且设计容易修改。
本发明的又一目的是在于多组镜头可同时检测多组对象,可增加检测效率。
本发明一种阵列式光学检测模块,包括:一载板、至少一承载座、多个镜头、一基座以及多个光源筒。载板具有多个开孔,而至少一承载座用以承载与多个开孔相对应的多个镜头,每一承载座是固设于载板上。基座设置有与多个开孔相对应的多个定位孔,固设于每一承载座的相对侧。多个光源筒对应穿设固定于每一定位孔内,通过每一光源筒对应每一镜头进行光学检测。
本发明可还包括一测试基座夹设于载板与每一承载座间,亦即测试基座可锁附于载板上,且每一承载座可锁附于测试基座。
再者,前述每一承载座与每一镜头间可夹设有一镜头承座,亦即每一镜头可先设置于每一镜头承座上,再将每一镜头承座组装于每一承载座上。
又,前述每一镜头承座可固设有一阻挡片,用以止挡每一镜头,以使每一镜头损坏时容易进行替换。
另外,上述的每一镜头承座与每一阻挡片间可更夹设有一O型环,以便能隔绝灰尘进入每一镜头内。
前述每一承载座对应每一镜头承座,可设有至少一针孔组,其可具有多个针孔,每一针孔组可对应设有一探针座,且载板可设有对应探针座的多个导通点,以使测试信号得以输出。
再者,前述基座的每一定位孔可具有一卡合部,每一光源筒包括一具有一凸部的光源筒本体,每一卡合部可用以卡合每一凸部,以便可防止每一光源筒组装时掉落。
另外,前述的每一光源筒可具有一穿孔及一盖设于穿孔的均光板,以使打出的光源更加均匀。又,每一光源筒可更具有一光源板及一盖设于光源板的下盖,光源板可通过螺栓或其他等效元件将下盖固设于基座,以便可将光源导引至每一光源筒内。
附图说明
为了详细说明本发明的结构、特征以及功效的所在,以下结合较佳实施例并配合附图说明如后,其中:
图1是本发明一较佳实施例阵列式光学检测模块的分解图。
图2是本发明一较佳实施例阵列式光学检测模块的立体图。
图3是本发明一较佳实施例阵列式光学检测模块的承载座与镜头分解图。
图4是本发明一较佳实施例阵列式光学检测模块的光源筒分解图。
具体实施方式
请同时参阅图1、图2以及图3,是为本发明一较佳实施例阵列式光学检测模块的分解图、立体图以及承载座与镜头分解图。如图所示,本实施例的一种阵列式光学检测模块包括:一载板1、至少一承载座20、多个镜头3、一基座4、多个光源筒5、多个光源筒本体50、多个测试基座6、多个镜头承座22、多个阻挡片23、多个O型环24、多个探针座25、多个均光板52、多个光源板53以及多个下盖54。
本实施例载板1具有八开孔11、而测试基座6具有四卡合槽61、至少一承载座20的数量为四以及基座4具有八定位孔41。上述每一承载座20用以承载与每一开孔11相对应的每一镜头承座22,亦即每一承载座20用以承载二镜头承座22。每一设有镜头承座22的承载座20,分别锁附于测试基座6的每一卡合槽61上,而测试基座6锁附于载板1上。
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