[发明专利]一种测量花纱特征的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量花纱特征的方法，具体涉及一种适用于例如纺纱或绕线工作中纤维实验室或生产线应用的测量花纱特征的方法。 

背景技术

花纱是指那些结构或含量不同于正常平滑纱线的纱线。它经常出现在于织造产品及针织产品中。花纱往往出现多种粗细不均的地方，即所谓竹节，其直径比所谓的基纱显著的增大或缩小。故意制作的没有基纱的厚度变化纱线也算花纱的一种。日益普及的花纱应用要求可靠和有意义的测量方法。往往需要测量的花纱变量有很多，例如基纱的直径，竹节的直径，竹节数量，竹节长度，竹节距离等等。这些变量可以用于控制现有花纱的质量，也可以用来决定制造花纱时那些数据是必要的。 

目前众所周知的测量纱线特征的方法和装置通常是在纵向采用电容和/或光学扫描的方式测量纱线。电容式扫描提供了一个表征纱线质量的信号，而光学扫描提供了一个与纱线直径成比例的信号。扫描信号可以采用模拟或数字信号的方式，可以同时输出一个或者几个这样的测量结果。例如，专利公开文献EP-0578975A1和EP-0249741A2就公开了测量的纱线特征的类似方法和装置。以上的这些纱线的测量系统都是由申请人提出，并在全世界受到知识产权保护的。 

为了获取纱线颜色，即纱线对光谱的反射特性。如据WO-2004/044579所述的适用于照明纱线的多种有色光源。纱线所反射的光线分别在至少两个不同光谱范围被探测。基于前述至少两个检测信号的信息来确定纱线颜色。同时采用不同波长扫描纺织材料的光学方法，也可以从CH674379或DE-19859274号专利 中得知。 

WO-2005/071150A1，WO-2005/038105A1和WO-2005/037699A1号专利特别针对花纱，以上文件的要点归纳如下： 

确定基纱的直径：首先，在一个较大的长度范围内来计算纱线直径的算术平均值。这样就减轻了个别数据对纱线直径的影响。该算术平均值一切负值结合已测到的相邻的其他负值共同定义为基纱的直径。 

确定竹节的始端，末端和长度：如果在一定的纱线长度内，一个极限直径开始过于激烈且持续的超过基纱的直径则定义为竹节始端。如果前述极限直径减少并且这种减少持续了一定长度，定义为竹节末端；竹节长度是指竹节始端和末端之间的距离。 

确定竹节的直径：在一个竹节内所存在一定数量的最大直径定义为竹节的直径。 

虽然以上描述花纱特征的方法十分有用，但也有几个缺点。测量的结果包含大量的数据，这些数据不明确且难以处理，难以甄别合适的具有明显代表性的数据。前述方法，当基纱直径过大而竹节长度是过小时缺点尤其明显。 

发明内容

本发明提供了一种清楚的显示测量结果的测量花纱特征的方法。本发明相比于WO-2005/037688A1有效的减少数据量。本发明还可以将数据以一定的标准划分为若干类别，既可以将数据划分为关于竹节的或将数据划分为关于瑕疵的。 

本发明所述的测量花纱特征的方法，其中的花纱包含一系列竹节和基纱。包括，延花纱的纵轴方向扫描花纱的至少一个特征；处理扫描后得到的值并且；输出处理的结果；这些花纱参数例如基纱质量，基纱直径，竹节距离，竹节质量增加值，竹节直径增加值，竹节直径，竹节长度和/或竹节数量。其中至少一 个处理后的结果是以图形的形式输出。这种图形显示的方法可以有效减少数据数量。并提供了对数据的快速的直观感受。还可以将数据以一定的标准划分为若干类别。在下述的实施例中，该图形显示为散点图，并且其中至少一个被扫描的特征为花纱质量和/或直径。 

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。 

图1是进行该方法而使用的设备示意图； 

图2是一个在纵向上花纱质量读数的例子的示意图； 

图3是图2所示信号的频数分布H(M)示意图； 

图4是图2局部放大图； 

图5-15是纱线可能输出数据的各个类型示意图； 

图16是双层竹节实施例的示意图； 

图17是一个可行的多层花纱测量方式示意图； 

图18是花纱一系列数据的谱图； 

图19是将竹节读数平滑或理想化后进一步得到的图形； 

图20是有凹陷的竹节曲线示意图； 

图21是测量曲线下方区域的积分曲线； 

图22是每单位长度数值的处理曲线；其中图22（a）展示的是原始曲线，图22（b）是理想化的曲线，图22（c）是从原始曲线中减去理想化曲线得到的曲线；