[发明专利]扫描不规则标记的方法及系统无效

专利信息
申请号: 201310119030.X 申请日: 2013-04-08
公开(公告)号: CN104102653A 公开(公告)日: 2014-10-15
发明(设计)人: 黄思纶;吴志偟 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F17/30 分类号: G06F17/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 扫描 不规则 标记 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种扫描不规则标记的方法,其特征在于,该方法包括:

获取步骤,从扫描设备获取扫描得到的重工标签,该重工标签排列有多个彩阶区域,该多个彩阶区域由一定数量的彩阶像素组成,且该多个彩阶区域包括被作过标记的重工版本号和未作标记的重工版本号;

确定步骤,确定每个彩阶区域的最小外接矩形的第一参考坐标以及第二参考坐标,以确定最小外接矩形的位置范围;

计算步骤,计算最小外接矩形位置范围内的彩阶覆盖率;

查询步骤,查询当前彩阶覆盖率没有超出原始覆盖率预设比例的彩阶区域,该查询到的彩阶区域包括未作标记的重工版本号;

输出步骤,在电子装置的显示器上输出最新的重工版本号,所述最新的重工版本号为上述未作标记的最小重工版本号。

2.根据权利要求1所述的扫描不规则标记的方法,其特征在于,所述确定步骤包括:

以重工标签预设位置的像素点为原点建立二维坐标系,获取在该二维坐标系内,每个彩阶区域中像素点的横坐标及纵坐标,确定该横坐标及纵坐标中的最小横坐标、最大横坐标、最小纵坐标及最大纵坐标,所述最小外接矩形的第一参考坐标包括所述最小横坐标,及所述最大纵坐标,所述最小外接矩形的第二参考坐标包括所述最大横坐标,及所述最小纵坐标。

3.根据权利要求1所述的扫描不规则标记的方法,其特征在于,所述彩阶覆盖率通过计算最小外接矩形位置范围内的彩阶像素占最小外接矩形内所有像素的百分比得到。

4.根据权利要求3所述的扫描不规则标记的方法,其特征在于,所述计算步骤包括:

设未作标记的彩阶区域的最小外接矩形的彩阶像素为1,空白像素为0,该最小外接矩形构成由1、0二进制码组成的矩阵,以预定顺序输出该矩阵的二进制码,所述彩阶覆盖率通过计算该二进制码输出结果中“1”所占的百分比得到。

5.根据权利要求1所述的扫描不规则标记的方法,其特征在于,所述原始覆盖率为当重工版本号未作标记时,彩阶像素在该重工版本号的最小外接矩形中的覆盖率。

6.一种扫描不规则标记的系统,其特征在于,该系统包括:

获取模块,用于从扫描设备获取扫描得到的重工标签,该重工标签排列有多个彩阶区域,该多个彩阶区域由一定数量的彩阶像素组成,且该多个彩阶区域包括被作过标记的重工版本号和未作标记的重工版本号;

确定模块,用于确定每个彩阶区域的最小外接矩形的第一参考坐标以及第二参考坐标,以确定最小外接矩形的位置范围;

计算模块,用于计算最小外接矩形位置范围内的彩阶覆盖率;

查询模块,用于查询当前彩阶覆盖率没有超出原始覆盖率预设比例的彩阶区域,该查询到的彩阶区域包括未作标记的重工版本号;

输出模块,用于在电子装置的显示器上输出最新的重工版本号,所述最新的重工版本号为上述未作标记的最小重工版本号。

7.根据权利要求6所述的扫描不规则标记的系统,其特征在于,所述确定模块以重工标签预设位置的像素点为原点建立二维坐标系,获取在该二维坐标系内,每个彩阶区域中像素点的横坐标及纵坐标,确定该横坐标及纵坐标中的最小横坐标、最大横坐标、最小纵坐标及最大纵坐标,所述最小外接矩形的第一参考坐标包括所述最小横坐标,及所述最大纵坐标,所述最小外接矩形的第二参考坐标包括所述最大横坐标,及所述最小纵坐标。

8.根据权利要求6所述的扫描不规则标记的系统,其特征在于,所述彩阶覆盖率通过计算最小外接矩形位置范围内的彩阶像素占最小外接矩形内所有像素的百分比得到。

9.根据权利要求8所述的扫描不规则标记的系统,其特征在于,所述计算模块设未作标记的彩阶区域的最小外接矩形的彩阶像素为1,空白像素为0,该最小外接矩形构成由1、0二进制码组成的矩阵,以预定顺序输出该矩阵的二进制码,所述彩阶覆盖率通过计算该二进制码输出结果中“1”所占的百分比得到。

10.根据权利要求6所述的扫描不规则标记的系统,其特征在于,所述原始覆盖率为当重工版本号未作标记时,彩阶像素在该重工版本号的最小外接矩形中的覆盖率。

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