[发明专利]位移检测装置

说明书

技术领域

本发明是有关一种输入装置，更特别有关一种可增加可适用工作表面的位移检测装置。

背景技术

在电脑系统的周边装置中，鼠标已为一种重要的输入装置。由于传统滚轮式鼠标具有容易堆积灰尘的问题，滚轮式鼠标已逐渐被光学式光学鼠标所取代。

光学鼠标通常是计算连续图像中的图像相关性（correlation）来计算位移量。例如参照图1所示，其显示光学鼠标所获取的两张图像F1、F2。每一采样期间，图像获取单元获取目前图像F2并将其传送至处理单元。所述图像获取单元并于前一采样期间获取参考图像F1。所述处理单元于所述参考图像F1中选择预设尺寸的参考区块RB作为比较对象；并于所述目前图像F2中以相同尺寸的搜寻区块SB依序搜寻所述目前图像F2的全部范围以得到与所述参考区块RB具有最高相关性的最佳搜寻区块。接着，所述处理单元计算所述参考区块RB在所述目前图像F2中的相对位置与所述最佳搜寻区块的变化量来作为所述光学鼠标的输出位移量。

然而，由于传统光学式鼠标是使用固定尺寸的参考区块和搜寻区块来计算位移量，在某些状况下可能无法正确计算出所述位移量；例如，当在玻璃表面操作光学鼠标时则可能无法计算出位移量。

有鉴于此，本发明还提出一种位移检测装置，其可根据所检测图像的内容来调整比较区块的区块尺寸来适用于较广泛的工作表面。

发明内容

本发明提供一种位移检测装置，其可根据曝光参数和图像品质调整比较区块的区块尺寸以增加工作表面的可适用性。

本发明提供一种位移检测装置，其可在图像品质高时使用较小的区块尺寸以降低装置耗能。

本发明提供一种位移检测装置，其用于供使用者在工作表面操作，并可适用于具有暗场配置和亮场配置的光学式位移检测装置。

本发明提供一种位移检测装置，包含光源、图像传感器以及控制处理单元。所述光源用于发出主光束照明所述工作表面以形成主反射光路。所述图像传感器位于所述主反射光路上并以曝光参数获取目前图像。所述控制处理单元用于利用搜寻区块搜寻所述目前图像、根据所述目前图像计算品质参数并根据所述曝光参数和所述品质参数动态地调整所述搜寻区块的区块尺寸。本实施例中，所述图像传感器属于亮场配置。

本发明还提供一种位移检测装置，包含光源、图像传感器以及控制处理单元。所述光源用于发出主光束照明所述工作表面以形成主反射光路。所述图像传感器位于所述主反射光路外并以曝光参数获取目前图像。所述控制处理单元用于利用搜寻区块搜寻所述目前图像、根据所述目前图像计算品质参数并根据所述曝光参数和所述品质参数调整所述搜寻区块的区块尺寸。本实施例中，所述图像传感器属于暗场配置。

本发明还提供一种位移检测装置，包含光源、图像传感器以及控制处理单元。所述光源用于照明所述工作表面。所述图像传感器以曝光参数获取目前图像。所述控制处理单元用于利用搜寻区块搜寻所述目前图像、根据所述目前图像计算品质参数并根据所述品质参数调整所述搜寻区块的区块尺寸。

一实施例中，所述控制处理单元根据所述目前图像的亮度（例如平均亮度、最大亮度或区域平均亮度）控制所述图像传感器的所述曝光参数。

一实施例中，当所述控制处理单元根据所述目前图像判断工作表面为光滑表面时，则以较大尺寸的比较区块来计算位移量以增加可适用的工作表面；当所述控制处理单元判断所述工作表面不为光滑表面时，则降低所述比较区块的区块尺寸或将区块尺寸设定为预设区块尺寸以节省耗能。

一实施例中，所述控制处理单元根据多张所述目前图像判断所述工作表面为光滑表面时才增加所述区块尺寸，以增加运作稳定性。

一实施例中，当所述品质参数小于品质阈值且所述曝光参数小于曝光阈值时，所述控制处理单元判断所述工作表面为光滑表面。

一实施例中，当所述品质参数小于品质阈值且所述曝光参数大于等于曝光阈值或所述品质参数除以所述曝光参数的商数小于比例阈值时，所述控制处理单元判断所述工作表面为光滑表面。

本发明实施例的位移检测装置中，可利用多品质阈值和/或多曝光阈值设定多个比较区块的区块尺寸，以适用于各种不同的工作表面。此外，也可将品质阈值和/或曝光阈值与不同区块尺寸的关系制作成查找表并储存于储存单元中，当所述控制处理单元计算出一组品质参数和曝光参数时，即可选择适当的比较区块尺寸以增加操作效能。

为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显，下文将配合所附图示，详细说明如下。此外，于本发明的说明中，相同的构件是以相同的符号表示，在此先述明。