[发明专利]一种量子产率的测试方法有效
申请号: | 201310120635.0 | 申请日: | 2013-04-09 |
公开(公告)号: | CN103226100A | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 张春阳;胡娟 | 申请(专利权)人: | 深圳先进技术研究院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 量子 测试 方法 | ||
1.一种量子产率的测试方法,用于测试待测样品的量子产率Q,其特征在于,包括:
提供一量子产率为Qr的参比样品;
提供折射率为nr的第一溶剂和折射率为n的第二溶剂,将所述参比样品溶于所述第一溶剂,制备得到参比样品溶液/胶体,将所述待测样品溶于所述第二溶剂,制备得到待测样品溶液/胶体;
测试所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体的吸收光谱,获得所述参比样品溶液/胶体的吸光度Ar,和所述待测样品溶液/胶体的吸光度A;
分别稀释所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体,制备得到稀释因子为Tr的参比样品稀释液,和稀释因子为T的待测样品稀释液;
测试所述参比样品稀释液和所述待测样品稀释液的荧光图像,获得所述参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数Nr和单个分子或粒子的荧光强度Ir,和所述待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I;
根据获得的上述参数,计算单分子水平下量子产率Q如下:
2.如权利要求1所述的量子产率的测试方法,其特征在于,所述提供一量子产率为Qr的参比样品包括:
将所述待测样品溶于所述第二溶剂中,制备得到所述待测样品溶液/胶体,并测量所述待测样品溶液/胶体的吸收光谱和发射光谱,以查表择取所述参比样品,所述参比样品溶液/胶体的最大吸收峰所覆盖的范围与所述待测样品溶液/胶体的最大吸收峰所覆盖的范围一致,或所述参比样品溶液/胶体的最大发射峰所覆盖的范围与所述待测样品溶液/胶体的最大发射峰所覆盖的范围一致,所述参比样品溶液/胶体的量子产率为Qr。
3.如权利要求1所述的量子产率的测试方法,其特征在于,所述第一溶剂为水、乙醇、环己烷、氯仿或甲苯中的一种,所述第二溶剂为水、乙醇、环己烷、氯仿或甲苯中的一种。
4.如权利要求1所述的量子产率的测试方法,其特征在于,所述吸收光谱包括紫外可见吸收光谱和红外吸收光谱,所述参比样品溶液/胶体的吸光度Ar和所述待测样品溶液/胶体的吸光度A均小于0.1。
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