[发明专利]发光模块检测装置以及发光模块检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种发光模块检测装置以及发光模块检测方法，并且特别地，涉及一种可精确算出发光模块中发光元件与透镜中心位置的偏差的发光模块检测装置以及发光模块检测方法。

背景技术

大功率LED照明零元件在成为照明产品前，一般要进行光学设计来调整LED发出所需的光源。一次光学设计指当LED芯片封装成LED光电零元件时以一次透镜调整LED本身的出光角度、光强、光通量大小、光强分布、色温的范围与分布。经过一次光学设计后的LED光电零元件，其发光角度大约为120度左右。由于LED光电零元件属于点光源，故这些LED光电零元件常以排成阵列的方式形成发光模块，藉此可发出面光源而可供背光模块等装置应用。

以作为背光源的发光模块为例，各LED光电零元件可先以一列的方式设置于长条形的基板上，接着再将类似的各基板并排而形成LED阵列。LED光电零元件为发光角度为120度左右的点光源，虽然通过阵列排列可达到类似面光源的功能，但仍有出光不均的问题使得面光源的效果不佳。因此，一般LED光电零元件于应用时(不论是否为背光模块的应用)，皆须经过二次光学设计来进一步调整出光为所需光源。以背光模块而言，长条形的基板上可再进一步设置多个二次光学透镜，而各LED光电零元件则分别位于各二次光学透镜的中心位置。通过各二次光学透镜，可令各LED光电零元件所发出的光形成面光源。

请参阅图1A以及图1B，图1A为现有技术的发光模块1的示意图，图1B则绘示图1A的发光模块1的部分侧视图。如图1A所示，发光模块1可具有基板10以及于基板10上设置一列的发光单元12。另外，如图1B所式，各发光单元12包含发光元件120及透镜122，两者皆设置在基板10之上，并且发光元件120位在透镜122的中心位置。发光元件120所发出的光线经过透镜122的二次光学处理后，可在空间中产生使用者所需的光学特性。

上述二次光学设计中，若因人为或系统的误差使得LED光电零元件偏离二次光学透镜的中心位置时，二次光学透镜所散射出的光线会影响到面光源的均匀度。因此，发光模块皆须经过二次光学的检测，以背光模块而言，即检测各LED光电零元件是否为于对应的二次光学透镜的中心位置。于现有技术中，此检测将先各LED光电零元件通电使其发出光线，当光线经过二次光学透镜散射至发光模块外时，通过扩散板将空间中的光线强度收集以进行分析，并反推LED光电零元件与二次光学透镜的位置，藉此得知LED光电零元件是否位于二次光学透镜的中心位置。

如上所述，于现有技术的二次光学检测中必须先连接电极来点亮LED光电零元件，再以其所发出的光源进行检测。各LED光电零元件设置于基板上而成为发光模块时，通常各LED光电零元件的电极接通过基板上的电路连接到一个统一的电极开关，故所有LED光电零元件会同时被点亮。若以现有技术的二次检测方法对其中一个LED光电零元件的位置进行检测时，可能会被其它LED光电零元件所发出的光源所干扰，导致检测结果严重偏差。另外，即便是同样规格的LED光电零元件，所发出的光源也可能具有个体差异，若以LED光电零元件所发出光源进行检测同时也会受到不同光源的偏差所干扰，而必须各别进行校正而增加检测的复杂度。

发明内容

因此，本发明的一目的在于提供一种不需通过发光元件所发出的光源即可精确算出发光元件与透镜中心位置的偏差的发光模块检测装置，以解决现有技术的问题。

根据一具体实施例，本发明的发光模块检测装置用来检测包含发光模块的发光元件是否为于透镜的中心位置，其包含光源、第一摄像单元以及第二摄像单元。发光模块检测装置的光源自透镜外发出光源，以照射发光模块的透镜及发光元件，第一摄像单元可自透镜的第一侧向对透镜及发光元件撷取第一影像，而第二摄像单元则可自透镜的第二侧向对透镜及发光元件撷取第二影像，其中，第一侧向与第二侧向间具有角度不为零的夹角。根据第一摄像单元与第二摄像单元所撷取出的第一影像、第二影像以及第一侧向与第二侧向间的夹角，可计算得到发光元件与透镜中心位置间的偏差。

本发明的另一目的在于提供一种发光模块检测方法，可解决现有技术的问题。