[发明专利]一种测定纯Hf中痕量元素钾的方法无效
申请号: | 201310127295.4 | 申请日: | 2013-04-12 |
公开(公告)号: | CN103257112A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 任慧;杨春晟;叶晓英 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 陈宏林 |
地址: | 100095*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测定 hf 痕量 元素 方法 | ||
1.一种测定纯Hf中痕量元素钾的方法,其特征在于:该方法在测定过程中使用的试剂有:
氯化铯溶液:溶液中铯的质量-体积浓度是10mg/mL,制备方法是称取2.53g光谱纯的氯化铯,置于100mL烧杯中,加水溶解,移入200mL容量瓶中,用水稀释至刻度,混匀;
K标准溶液Ⅰ:质量-体积浓度是0.10mg/mL,制备方法是称取0.1907g预先经550℃灼烧2h并在保干器中冷至室温的氯化钾,氯化钾的质量分数不小于99.95%,置于250mL烧杯中,加水溶解,补加20mL的MOS级盐酸,移入1000mL容量瓶中,用水稀释至刻度,混匀,移入干燥的塑料瓶中保存;
K标准溶液Ⅱ:质量-体积浓度是2μg/mL,制备方法是移取钾标准溶液Ⅰ20.00mL,置于1000mL容量瓶中,用水稀释至刻度,混匀;
盐酸:MOS级;
硝酸:MOS级;
氢氟酸:优级纯;
该方法的测定过程的步骤是:
⑴制备试样溶液:
称取0.20g纯Hf试料,精确到0.0001g,纯Hf质量分数不小于99.99%;
将纯Hf试料置于150mL聚四氟乙烯烧杯中,依次加入5~8mL盐酸、2mL~6mL硝酸、5~10滴氢氟酸,低温加热溶解,溶解完全后,冷却至室温,移入25mL塑料容量瓶中;
⑵制备标准加入工作曲线溶液
取不少于4份的试样溶液,加入K标准溶液Ⅱ,加入量为0.5mL~5mL,其中3份试样溶液中的加入量为0、0.5mL、5mL,然后在上述全部试样溶液中加入1~5mL氯化铯溶液,以水稀释至刻度,混匀;
⑶测量标准加入工作曲线溶液中K的含量
采用原子吸收光谱法,在K766.5nm波长处,依次测量标准加入工作曲线溶液中K的吸光度,横坐标用标准加入工作曲线溶液中K的含量,纵坐标用标准加入工作曲线溶液中K的吸光度,绘制工作曲线,得到该曲线与横坐标交点值,记为K1;
⑷制备试剂空白标准加入工作曲线溶液
在150mL聚四氟乙烯烧杯中,加入5~8mL盐酸、2mL~6mL硝酸、5~10滴氢氟酸,低温加热溶解,溶解完全后,冷却至室温,移入25mL塑料容量瓶中;
取不少于4份的该溶液,加入K标准溶液Ⅱ,加入量为0.5mL~5mL,其中3份溶液中的加入量为0、0.5mL、5mL,然后在上述全部溶液中加入1~5mL氯化铯溶液,以水稀释至刻度,混匀;
⑸测量试剂空白标准加入工作曲线溶液中K的含量
采用原子吸收光谱法,在K766.5nm波长处,依次测量试剂空白标准加入工作曲线溶液中K的吸光度,横坐标用试剂空白标准加入工作曲线溶液中K的含量,纵坐标用试剂空白标准加入工作曲线溶液中K的吸光度,绘制工作曲线,得到该曲线与横坐标交点值,记为K2;
⑹计算纯Hf中K元素的含量WK,数值以%表示
WK=K1-K2;
上述方法中所述低温加热的加热范围为50~200℃。
2.根据权利要求1所述的测定纯Hf中痕量元素钾的方法,其特征在于:原子吸收光谱仪的工作条件及分析线如下:
K元素:分析线766.5nm,光谱通道0.2或0.7nm,灯电流6~15mA,空气流量4.0L/min,乙炔流量1.0~2.5L/min。
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