[发明专利]用于电子罗盘的校正方法

权利要求书

1.一种用于一电子罗盘的校正方法，该电子罗盘包含有多个磁力传感器，该多个磁力传感器分别对应于一感测圆，该校正方法包含有：

利用该多个磁力传感器分别于不同时间点侦测出多个第一时间点坐标与多个第二时间点坐标；以及

根据多个第一时间点坐标与多个第二时间点坐标，分别计算出该多个磁力传感器的相应感测圆与一坐标原点的几何关系，并据以对该多个磁力传感器进行校正。

2.如权利要求1所述的校正方法，其特征在于，侦测出多个第一时间点坐标与多个第二时间点坐标的步骤包含有：

利用该多个磁力传感器的一第一磁力传感器分别于不同时间点侦测出一第一坐标与一第二坐标，并利用该多个磁力传感器的一第二磁力传感器分别于不同时间点侦测出一第三坐标与一第四坐标，该第一磁力传感器对应于一第一感测圆及该第二磁力传感器对应于一第二感测圆。

3.如权利要求2所述的校正方法，其特征在于，侦测出该第一坐标与该第二坐标并利用该第二磁力传感器分别于不同时间点侦测出该第三坐标与该第四坐标的步骤包含有：

于一第一时间点利用该第一磁力传感器侦测出该第一坐标，以及于一第二时间点利用该第一磁力传感器侦测出该第二坐标；以及

于该第一时间点利用该第二磁力传感器侦测出该第三坐标，以及于该第二时间点利用该第二磁力传感器侦测出该第四坐标。

4.如权利要求2所述的校正方法，其特征在于，分别计算出该多个磁力传感器的相应感测圆与该坐标原点的几何关系并据以对该多个磁力传感器进行校正的步骤包含：

计算该第一坐标与该第二坐标的坐标差值，以决定出一第一参考坐标，以及计算该第三坐标与该第四坐标的坐标差值，以决定出一第二参考坐标；

根据该第一参考坐标与该第二参考坐标，计算出一基准直线；

根据该第一坐标与该第三坐标，计算出一感测圆半径；以及

根据该第二坐标、该基准直线与该感测圆半径，决定出一第一校正值，以对该第一磁力传感器进行校正，以及根据该第四坐标、该基准直线与该感测圆半径，决定出一第二校正值，以对该第二磁力传感器进行校正。

5.如权利要求4所述的校正方法，其特征在于，决定出该第一参考坐标以及决定出该第二参考坐标的步骤包含有：

计算该第一坐标的水平坐标值与该第二坐标的水平坐标值的差值，以取得该第一参考坐标的水平坐标值，以及计算该第一坐标的垂直坐标值与该第二坐标的垂直坐标值的差值，以取得该第一参考坐标的垂直坐标值；以及

计算该第三坐标的水平坐标值与该第四坐标的水平坐标值的差值，以取得该第二参考坐标的水平坐标值，以及计算该第三坐标的垂直坐标值与该第四坐标的垂直坐标值的差值，以取得该第二参考坐标的垂直坐标值。

6.如权利要求4所述的校正方法，其特征在于，计算出该基准直线的步骤包含有：

计算该第一参考坐标与该第二参考坐标的坐标差值，以决定出该基准直线的一斜率；以及

根据该第一参考坐标、该第二参考坐标与该斜率，决定出该基准直线，其中该基准直线通过该第一参考坐标及该第二参考坐标。

7.如权利要求6所述的校正方法，其特征在于，该基准直线的该斜率等于该第一参考坐标的水平坐标值与该第二参考坐标的水平坐标值的差值除以该第一参考坐标的垂直坐标值与该第二参考坐标的垂直坐标值的差值。

8.如权利要求4所述的校正方法，其特征在于，该感测圆半径等于该第一坐标与该第三坐标之间的距离的二分之一。

9.如权利要求4所述的校正方法，其特征在于，决定出该第一校正值以及决定出该第二校正值的步骤包含有：

计算出通过该第二坐标且对应于该基准直线的一第一法线；

根据该第二坐标与该感测圆半径，沿该第一法线求出一第一参考感测圆心坐标，其中该第二坐标与该第一参考感测圆心坐标间的距离等于该感测圆半径的长度；

计算出通过该第四坐标且对应于该基准直线的一第二法线；

根据该第四坐标与该感测圆半径，沿该第二法线求出一第二参考感测圆心坐标，其中该第四坐标与该第二参考感测圆心坐标间的距离等于该感测圆半径的长度；以及

计算该第一参考感测圆心坐标与该第一坐标的坐标值的和值，以决定出该校正值，以及计算该第二参考感测圆心坐标与该第四坐标的坐标值的和值，以决定出该校正值。