[发明专利]LED测试用的矩阵检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种LED检测电路，特别是一种成本低，检测出的LED导通电压一致性好的LED测试用的矩阵检测电路。

背景技术

Led在出厂前需要进行检测，根据检测的结果进行分类后出厂，以满足客户的不同要求，对于以单个形式分光的LED其检测已不存在任何问题；为了满足客户的特别要求，现在以多颗LED不同组合一起分光的LED组件也越来越多，对于这种多组合的LED组件的电学和光学性能测试，一般采用如下两种方式，一种是并联式，一种共极式。

下面以三芯片led为例，来分别说明并联式和共极式测试电路的缺陷；如图15和图16所示是现有并联式测方式的示意图，图中，P1至P6分别代表第一恒流恒压电路至第六恒流恒压电路；T1至T3是探针A的三个测试脚，T4至T6是探针B的三个测试脚；图中A代表LED阳极，K代表LED阴极（下同）。探针A和探针B中的一组测试脚是固定的，另一组测试脚可相对固定的测试脚平动；如图15所示，被测试组件D1、D2和D3（D1、D2和D3分别代表三个LED）的阳极A分别与探针A的三个测试脚连接，假设探针A固定，则探针B可相于探针A平动，在探针A中D1的阳极接测试脚T1、D2的阳极接测试脚T2，D3的阳极接测试脚T3，并分别由第一恒流恒压电路P1至第三恒流恒压电路P3的高平脚提供高平电流，而被测试组件D1、D2和D3的阴极K分别与探针B的三个测试脚连接，并与P4至P6的低平脚连接，如此，测得被测试组件D1、D2和D3的电学和光学性能；但是，如果从振动盘过来的被测试组件D1、D2和D3方向相反，这种现象很常见，那么用现有的检测电路就如同图16所示，被测试组件D1、D2和D3（D1、D2和D3分别代表三个LED）的阳极A分别与探针B的三个测试脚连接，其中D1的阳极接测试脚T4、D2的阳极接测试脚T5，D3的阳极接测试脚T6，并分别由P4至P6的高平脚提供高平电流，而被测试组件D1、D2和D3的阴极K分别与探针A的三个测试脚连接，并与P1至P3的低平脚连接。比较图15与图16所示实例，不难看出，在图15所示的检测状态下（通常称为正向检测），被测试组件D1、D2和D3分别由第一恒流恒压电路P1至第三恒流恒压电路P3的高平脚提供高平电流；而在图16所示的检测状态下（通常称为反向检测），被测试组件D1、D2和D3分别由第四恒流恒压电路P4至第六恒流恒压电路P6的高平脚提供高平电流；这就是说，在正向或反向测试时，测试仪需要切换恒流恒压电路，如此就会引入不同恒流恒压电路之间的误差，造成同一批次的被检产品的测试的导通电压误差过大，不适合于目前对LED的该项指标的精度要求。

图17和图18所示是现有共极式测试方式的示意图，图中，P1至P4分别代表第一恒流恒压电路至第四恒流恒压电路；当正向检测时，如图17所示,由第一恒流恒压电路P1接低平端，其它三个脚分别接第二至第四恒流恒压电源，由第二至第四恒流恒压电源提供高平电流进行检测，而在反向检测时，如图18所示，而是由第三恒流恒压电路P3接低平端，其它三个脚分别接第一、第二和第四恒流恒压电源，由第一、第二和第四恒流恒压电源提供高平电流进行检测；这样的结构同样存在上述的问题，即在正向或反向测试时，需要切换恒流恒压电路，会引入不同恒流恒压电路之间的误差，造成同一批次的被检产品的导通电压误差过大，也不适合于目前对LED的该项指标的精度要求。

除此之外，上述的无论是并联式和共极式测试电路都存在至少要多使用一个恒流恒压电路，造成检测装置增加成本的问题。

以上分析仅以三芯片led为例，对现有的并联式和共极式检测电路加以了说明，实际上现有的并联式和共极式检测电路于n个LED（n是大于等于1的正整数）的检测均存在上述相同的问题，即需要切换恒流恒压电路，会引入不同恒流恒压电路之间的误差，造成同一批次的被检产品的导通电压误差过大，也不适合于目前对LED的该项指标的精度要求；以及无论是并联式和共极式测试电路都存在至少要多使用一个恒流恒压电路，造成检测装置增加成本的问题。本文中，对于除三芯片LED外的检测电路，不作详细地分析，请读者自行分析。

发明内容

为了克服上述问题，本发明向社会提供一种检测的LED导通电压一致性好，且至少可少用一个恒流恒压电路的LED测试用的矩阵检测电路。