[发明专利]一种薄膜材料塞贝克系数测量仪

权利要求书

1.一种薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，包括样品台、温度控制系统和数据采集系统；

所述样品台包括样品夹和底座，所述样品夹用来固定测试样品，其包括热端部和冷端部，所述热端部和冷端部分别固定测试样品的两端；

所述温度控制系统包括传感器、温控器、继电器、加热器和冷却器，所述传感器、加热器和冷却器均设置在所述样品夹上，所述温控器输入端与所述传感器相连，其输出端与所述继电器输入端相连，所述加热器和所述冷却器分别与所述继电器的输出端相连，所述热端部和所述冷端部之间具有温差；

所述数据采集系统包括金电极和数据采集卡；所述金电极用于采集测试样品的电压信号，通过所述数据采集卡进行模数转换，显示于具有信息交互单元的计算机。

2.如权利要求1所述的薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，所述样品台的热端部上设有若干个孔，用于放置加热器和冷却器；

所述样品台的冷端部上设有若干个孔，用于放置加热器和冷却器。

3.如权利要求1所述的薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，所述样品夹的热端部和冷端部分别连接传感器，所述传感器与所述温控器相连，所述温控器的输出端连接所述继电器，所述继电器连接加热器构成加热回路；

或者，所述继电器连接冷却器构成冷却回路。

4.如权利要求3所述的薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，对于所述样品的夹热端回路，所述继电器常开触点接若干个加热器，常闭触点接若干个冷却器，每个加热回路或冷却回路都有开关单独控制，干路设总开关；

或者，

对于所述样品夹的冷端回路，所述继电器常开触点接若干个加热器，常闭触点接若干个冷却器，每个加热回路或冷却回路都有开关单独控制，干路设总开关。

5.如权利要求1或2所述的薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，所述加热器采用不锈钢电加热器；所述冷却器采用半导体制冷元件。

6.如权利要求1所述的薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，所述底座由具有电绝缘性能和热绝缘性能的材料制成。

7.如权利要求1所述的薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，所述样品夹上设有用来固定测试样品的螺丝，所述螺丝沿测试样品的长度方向位置可调。

8.如权利要求1所述的薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，所述样品夹热端部和冷端部与底座间通过螺丝固定，所述螺丝沿底座长度方向移动，用来调整热端部和冷端部之间的距离。

9.如权利要求1所述的薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，所述温控器为可编程比例积分微分PID调节器；

继电器为可控硅固态继电器；

传感器为热敏电阻或热电偶。

10.如权利要求1所述的薄膜材料塞贝克系数测量仪，其特征在于，所述金电极为铜基材单面镀金，镀金一面与测试样品接触；所述数据采集卡为盒式，与计算机接口连接。