[发明专利]一种波段相对强度探测的光电装置在审
申请号: | 201310133933.3 | 申请日: | 2013-04-17 |
公开(公告)号: | CN104111111A | 公开(公告)日: | 2014-10-22 |
发明(设计)人: | 刘红超;刘知常 | 申请(专利权)人: | 刘红超 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 北京神州华茂知识产权有限公司 11358 | 代理人: | 吴照幸 |
地址: | 200336 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 波段 相对 强度 探测 光电 装置 | ||
1.一种波段相对强度探测的光电装置,其特征在于:包括最少一组波段选择单元、最少两组光电传感单元、电信号处理单元、信号反应单元、电源,
波段选择单元用于将要测量的波段从入射光中选择出来;
光电传感单元用于光信号转换为电信号,测量光谱强度;
电信号处理单元用于将由光电传感单元检出的电信号转换成能为后续器件使用或识别的电信号;
电信号反应单元实现包括:强度信号显示,存储、对超过设定范围的信号进行报警;
电源为波段选择单元、光电传感单元、电信号处理单元、电信号反应单元提供正常工作所需的电能;
所述波段选择单元位于入射光的一侧,最少一组光电传感单元位于波段选择单元出射光的一侧,电信号处理单元与光电传感单元电连接。
2.如权利要求1所述的一种波段相对强度探测的光电装置,其特征在于:所述波段选择单元包括光子晶体、带通滤波器、滤色片、晶体单色器、光栅单色器或者棱栅单色器。
3.如权利要求1所述的一种波段相对强度探测的光电装置,其特征在于:至少一组光电传感单元得到波段强度信号,至少另一组或全部传感器得到全光谱强度信号,这些信号经电信号处理单元得到波段相对强度信号。
4.如权利要求1所述的一种波段相对强度探测的光电装置,其特征在于:光电传感单元包括光电二极管,光电三极管,光敏电阻、光电倍增器、光电池、CMOS、CCD、或者电荷注入传感器。
5.如权利要求1所述的一种波段相对强度探测的光电装置,其特征在于:光电传感单元包括单质基半导体光电传感器和化合物基光电传感器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于刘红超,未经刘红超许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310133933.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电光装置及控制方法
- 下一篇:即时通讯过程中的视频通讯方法及系统