[发明专利]光源照射方向的校准方法有效

专利信息
申请号: 201310137027.0 申请日: 2013-04-18
公开(公告)号: CN103197275A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 孙永亮 申请(专利权)人: 海南英利新能源有限公司
主分类号: G01R35/02 分类号: G01R35/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明;张永明
地址: 海南省海口市国家高新技术*** 国省代码: 海南;66
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摘要:
搜索关键词: 光源 照射 方向 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种光源照射方向的校准方法,其特征在于,包括:

步骤S1:将目标照射区域分为至少两个待测试区域;

步骤S2:打开光源并测量每个所述待测试区域的光照强度值;

步骤S3:根据所述光照强度值,确定所述光源的调节角度;

步骤S4:根据所述调节角度对所述光源的照射方向进行调节。

2.根据权利要求1所述的校准方法,其特征在于,所述步骤S2中测量所述光照强度值的方法采用:

A:使用辐照计测量每个所述待测试区域的所述光照强度值;或

B:将一个太阳能电池片依次放置在每个所述待测试区域,以通过测量所述太阳能电池片在每个所述待测试区域的电性能参数,计算得出每个所述待测试区域的光照强度值。

3.根据权利要求2所述的校准方法,其特征在于,所述电性能参数是短路电流值,并根据下述公式(1)计算所述光照强度值:

C=I×K公式(1)

其中,C是所述光照强度值;I是所述短路电流值;K是比例系数。

4.根据权利要求1所述的校准方法,其特征在于,所述步骤S3还包括:

步骤S31:根据至少两个所述光照强度值计算得出所述目标照射区域的辐照不均匀度;

步骤S32:仅当所述辐照不均匀度超出偏差允许范围时,执行所述步骤S4。

5.根据权利要求4所述的校准方法,其特征在于,根据下述公式(2)计算所述辐照不均匀度:

δ=A-BA+B×100%]]>公式(2)

其中,δ是所述辐照不均匀度;A是至少两个所述光照强度值中的最大值;B是至少两个所述光照强度值中的最小值。

6.根据权利要求4所述的校准方法,其特征在于,所述校准方法还包括在所述步骤S4之后的步骤S5:

重复所述步骤S2至步骤S4,直至所述辐照不均匀度满足所述偏差允许范围为止。

7.根据权利要求6所述的校准方法,其特征在于,所述调节角度为1度的整数倍。

8.根据权利要求6所述的校准方法,其特征在于,在所述步骤S4中,通过转动所述光源对所述光源的照射方向进行调节,所述光源的转动方向按下述方法确定:所述光源沿由所述待测试区域中所述光照强度值小的区域到所述待测试区域中所述光照强度值大的区域的方向转动。

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