[发明专利]测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置与方法

权利要求书

1.一种测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置，其特征在于，包括可调谐激光器（1）、偏振控制器（2）、待测电光强度调制器（3）、微波信号源（4）、第一光连接器（51）、第二光连接器（52）、色散光纤组 （6）、光功率计（7）、光电探测器（8）、微波功率计（9）、数据采集卡（10）、计算机（11）；

所述可调谐激光器（1）、偏振控制器（2）、待测电光强度调制器（3）、第一光连接器（51）、色散光纤组（6）、第二光连接器（52）、光电探测器（8）之间依次光路连接；所述光电探测器（8）、微波功率计（9）、数据采集卡（10）、计算机（11）、微波信号源（4）之间依次电路连接；

所述第二光连接器（52）、光功率计（7）之间为光路连接；所述色散光纤组（6）包括第一色散光纤（61）、第二色散光纤（62）；所述待测电光强度调制器（3）与微波信号源（4）之间为微波电路连接。

2.根据权利要求1所述的测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置，其特征在于，所述可调谐激光器（1）输出的波长为λ的光波经偏振控制器（2）输入到电光强度调制器（3），由微波信号源（4）输出的微波信号经由电光强度调制器（3）调制到光载波上，电光强度调制器（3）输出的微波调制光载波经第一光连接器（51）进入色散光纤（6），然后由第二光连接器（52）进入光电探测器（8），由光电探测器（8）输出电信号由微波功率计（9）进行功率测量即微波功率，该微波功率经数据采集卡（10）采集至计算机（11）进行数据处理与分析，得到光电探测器（8）输出的微波功率随微波信号源（4）扫描输出微波频率变化的曲线。

3.根据权利要求1所述的测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置，其特征在于，所述的可调谐激光器（1）是波长可调谐的半导体激光器或光纤激光器。

4.根据权利要求1所述的测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置，其特征在于，所述的第一光连接器（51）和第二光连接器（52）为光纤连接器、光学透镜或光学棱镜。

5.根据权利要求1所述的测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置，其特征在于，所述第一色散光纤和第二色散光纤为标准单模光纤、色散位移光纤或色散补偿光纤。

6.根据权利要求1或5所述的测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置，其特征在于，所述第二色散光纤（62）的色散是第一色散光纤（61）的两倍。

7.利用权利要求1所述的测量装置测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，利用测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置记录第一光连接器（51）与第二光连接器（52）连接时以及第一光连接器（51）与第二光连接器（52）之间分别接入第一色散光纤（61）和第二色散光纤（62）时三种情况下的微波功率随微波信号源（4）的频率变化的曲线，分别为C₀、C₁和C₂；

步骤二，断开微波信号源（4）与待测电光强度调制器（3）之间的电路连接，记录这三种情况下光功率计（7）的光功率值分别为P₀、P₁和P₂；利用测得的光功率值P₀、P₁和P₂和曲线C₀对曲线C₁和C₂进行归一化，即C_n1= P₀C₁/(C₀P₁)和C_n2= P₀C₂/(C₀P₂)；

步骤三，分别在曲线C_n1和C_n2上找到所有频率不为零的微波功率极小点，将第奇数个微波功率极小点与下一个与之相邻的第偶数个微波功率极小点之间的数据翻转为负数，得到一组新的类似余玄曲线的数据点和曲线D_n1和D_n2，利用公式：                                                得到电光强度调制器（3）的啁啾参数α随微波信号源（4）的调制频率f的变化曲线；其中，f_u为曲线D_n2上的第一个零点对应的频率，D_n1(f_u)为曲线D_n1中的频率f_u对应的数据；

步骤四，改变可调谐激光器（1）输出光波的波长λ，重复以上步骤，得到不同光波长情况下电光强度调制器（3）的啁啾参数α(f)的随微波调制频率变化的曲线。