[发明专利]一种放射治疗计划中靶区自动勾画的方法和装置有效
申请号: | 201310137977.3 | 申请日: | 2013-04-19 |
公开(公告)号: | CN103247046A | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | 杨雨晗;谢耀钦 | 申请(专利权)人: | 深圳先进技术研究院 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;A61B6/00 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 宋鹰武 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 放射 治疗 计划 中靶区 自动 勾画 方法 装置 | ||
1.一种放射治疗计划中靶区自动勾画的方法,其特征在于,包括以下步骤:
A:将待配准的断层Slice n+1与已勾画好的模版进行相似度测量,得到互信息值MI;
B:当MI达到或超过设定阈值时,将所述待配准的断层Slice n+1与前一断层影像进行基于特征点的弹性配准,得到所述待配准的断层Slice n+1的粗轮廓信息;
C:运用动态轮廓算子对所述粗轮廓信息进行精细化调整,得到所述待配准的断层Slice n+1的精细轮廓信息;
D:n自动加一,重复所述步骤A至C,进行到下一个循环流程中。
2.如权利要求1所述的放射治疗计划中靶区自动勾画的方法,其特征在于,所述步骤A还包括以下步骤:
a:当MI低于设定阈值时,则产生预警,生成查看提醒,或结束自动勾画程序。
3.如权利要求1或2所述的放射治疗计划中靶区自动勾画的方法,其特征在于,所述步骤B还包括以下步骤:
b1:当MI达到或超过设定阈值时,对所述待配准的断层Slice n+1与前一断层影像进行特征点提取;
b2:基于所述特征点进行弹性变换运算,得到所述待配准的断层Slice n+1与前一断层影像的像素坐标的弹性变换关系;
b3:Slice层的精细化轮廓信息将根据得到的所述弹性变换关系,得到所述待配准的断层Slice n+1的粗轮廓信息。
4.如权利要求1或2所述的放射治疗计划中靶区自动勾画的方法,其特征在于,所述步骤b1还包括以下步骤:
b10:所述特征点提取采用SIFT检测算子。
5.如权利要求1或2所述的放射治疗计划中靶区自动勾画的方法,其特征在于,所述步骤b2还包括以下步骤:
b20:所述弹性变换运算采用TPS算子。
6.如权利要求1或2所述的放射治疗计划中靶区自动勾画的方法,其特征在于,所述步骤C还包括以下步骤:
c1:所述运用动态轮廓算子Snake对所述粗轮廓信息进行精细化调整,是指基于所述粗轮廓信息,当某像素点的动态轮廓能量值没有找到预先设置的阈值时,将不对其进行调整。
7.如权利要求6所述的放射治疗计划中靶区自动勾画的方法,其特征在于,所述运用动态轮廓算子Snake基于能量最小化原理,包括曲度、梯度、灰度信息。
8.如权利要求1所述的放射治疗计划中靶区自动勾画的方法,其特征在于,所述相似度测量采用互信息算子。
9.一种放射治疗计划中靶区自动勾画装置,其特征在于,包括以下部分:
相似度检测模块,用于将待配准的断层Slice n+1与已勾画好的模版进行相似度测量,得到互信息值MI;
弹性配准模块,用于当MI达到或超过设定阈值时,将所述待配准的断层Slice n+1与前一断层影像进行基于特征点的弹性配准,得到所述待配准的断层Slice n+1的粗轮廓信息;
精细化调整模块,用于运用动态轮廓算子对所述粗轮廓信息进行精细化调整,得到所述待配准的断层Slice n+1的精细轮廓信息;
循环启动模块,用于当步骤C结束时,对n自动加一,重复所述步骤A至C,进行到下一个循环流程中。
10.如权利要求9所述的放射治疗计划中靶区自动勾画装置,其特征在于,所述弹性配准模块,还包括以下部分:
特征点提取单元,用于当MI达到或超过设定阈值时,对所述待配准的断层Slice n+1与前一断层影像进行特征点提取;
弹性变换运算单元,用于基于所述特征点进行弹性变换运算,得到所述待配准的断层Slice n+1与前一断层影像的像素坐标的弹性变换关系;
粗轮廓信息生成单元,用于Slice层的精细化轮廓信息将根据得到的所述弹性变换关系,得到所述待配准的断层Slice n+1的粗轮廓信息。
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