[发明专利]非制冷焦平面热像仪盘式斩波器逐列推扫调制方法有效
申请号: | 201310138301.6 | 申请日: | 2013-04-19 |
公开(公告)号: | CN103245418A | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | 程有度;李龙;孙光英;李立华;王敏;姜炜波;赵薇薇;杨登全;杨东 | 申请(专利权)人: | 昆明物理研究所 |
主分类号: | G01J5/02 | 分类号: | G01J5/02;G02B26/04 |
代理公司: | 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 | 代理人: | 赛晓刚 |
地址: | 650223 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制冷 平面 热像仪盘式 斩波器 逐列推扫 调制 方法 | ||
1.非制冷焦平面热像仪盘式斩波器逐列推扫调制方法,其特征在于:非制冷焦平面热像仪内的探测器光敏面⑷固定不动,斩波器的调制盘在匀速旋转调制过程中,对于调制盘的曝光扇叶⑴或调制盘的遮挡扇叶⑵的任意一条扇叶边缘⑶,在其扫过探测器光敏面中心(O2)的时刻,该条扇叶边缘⑶与探测器光敏面⑷的两个长对边同时相交。
2.按照权利要求1所述的盘式斩波器逐列推扫调制方法,其特征在于:该条扇叶边缘⑶接近平行于探测器光敏面⑷的短边、沿探测器光敏面⑷的长边方向逐列推扫调制。
3.按照权利要求1所述的盘式斩波器逐列推扫调制方法,其特征在于:当调制盘的扇叶边缘⑶的曲线类型给定后,盘式斩波器的设计优化技术特征为探测器光敏面⑷要尽量远离调制盘圆心(O1)而与调制盘的外圆内接;斩波器调制盘旋转到亮场同步时刻时,斩波器调制盘的曝光扇叶⑴的两条扇叶边缘⑶尽量平行地扫过探测器光敏面⑷的两条短边的中点(A1)和(A2)。
4.按照权利要求3所述的盘式斩波器逐列推扫调制方法,其特征在于:调制盘的扇叶边缘⑶为直边,盘式斩波器的设计优化技术特征为长方形探测器光敏面⑷要尽量远离调制盘圆心(O1)而与调制盘的外圆内接于(B1)和(B2);斩波器调制盘旋转到亮场同步时刻时,斩波器调制盘的曝光扇叶⑴的两条扇叶边缘⑶尽量平行地扫过探测器光敏面⑷的两条短边的中点(A1)和(A2)。
5.按照权利要求3所述的盘式斩波器逐列推扫调制方法,其特征在于:调制盘的扇叶边缘⑶为阿基米德螺旋线,盘式斩波器的设计优化技术特征为长方形探测器光敏面⑷要尽量远离调制盘圆心(O1)而与调制盘的外圆内接于(B1),调制盘的曝光扇叶⑴的两条扇叶边缘⑶分别与探测器光敏面⑷的两个短边相切,距调制盘圆心(O1)远的切点位于探测器光敏面⑷远短边的中点(A1),距调制盘圆心(O1)近的切点接近于探测器光敏面⑷近短边的中点(A2);斩波器调制盘旋转到亮场同步时刻时,斩波器调制盘的曝光扇叶⑴的两条扇叶边缘⑶尽量平行地扫过探测器光敏面⑷的两条短边的中点(A1)和(A2)。
6.按照权利要求3所述的盘式斩波器逐列推扫调制方法,其特征在于:调制盘的扇叶边缘⑶为渐开线,盘式斩波器的设计优化技术特征为长方形探测器光敏面⑷要尽量远离调制盘圆心(O1)而与调制盘的外圆内接于(B1),调制盘的曝光扇叶⑴的两条扇叶边缘⑶分别与探测器光敏面⑷的两个短边相切于探测器光敏面⑷两个短边的中点(A1)和(A2);斩波器调制盘旋转到亮场同步时刻时,斩波器调制盘的曝光扇叶⑴的两条扇叶边缘⑶尽量平行地扫过探测器光敏面⑷的两条短边的中点(A1)和(A2)。
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