[发明专利]一种一体式探头及具有一体式探头的测试测量仪器

权利要求书

1.一种一体式探头，包括PCB板，安装在所述PCB板上的补偿电路，安装在所述PCB板一端的探测针，安装在所述PCB板另一端的固定针，覆盖在所述PCB板和所述补偿电路上的前端绝缘层，安装在所述探测针的中部的探测针绝缘塞，安装在所述固定针的中部的固定针绝缘塞，在所述前端绝缘层与所述探测针绝缘塞及所述固定针绝缘塞的外部套有金属屏蔽管，其特征在于，所述前端绝缘层与所述探测针绝缘塞及所述固定针绝缘塞紧密连接，所述前端绝缘层是注塑包胶层。

2.根据权利要求1所述的探头，其特征在于，所述探测针绝缘塞、所述固定针绝缘塞及所述注塑包胶层是直径相同的圆柱形结构，所述金属屏蔽管的内壁为圆柱形结构，所述金属屏蔽管的内壁与所述探测针绝缘塞、所述固定针绝缘塞及所述注塑包胶层相接触。

3.根据权利要求2所述的探头，其特征在于，所述金属屏蔽管包括前管和尾管两部分，所述探测针绝缘塞的靠近探测针的针尖一侧还接有一个直径小于所述探测针绝缘塞的直径的圆柱形第二绝缘体；所述金属屏蔽管的尾管的内壁与所述探测针绝缘塞、所述固定针绝缘塞及所述注塑包胶层相接触，所述金属屏蔽管的前管的内壁与所述第二绝缘体相接触。

4.根据权利要求3所述的探头，其特征在于，所述金属屏蔽管的前管的长度与所述第二绝缘体的长度相同。

5.根据权利要求1、2、3或4所述的探头，其特征在于，所述注塑包胶层具有至少一个定位孔，所述定位孔为中空结构，由所述注塑包胶层的外表面垂直延伸至所述PCB板的一个表面上。

6.根据权利要求1、2、3或4所述的探头，其特征在于，所述注塑包胶层具有至少一个上定位孔和至少一个下定位孔，所述上定位孔和所述下定位孔均为中空结构，所述上定位孔由所述注塑包胶层的外表面垂直延伸至所述PCB板的一个表面上，所述下定位孔由所述注塑包胶层的外表面垂直延伸至所述PCB板的另一个表面上。

7.一种具有一体式探头的测试测量仪器，包括所述一体式探头，所述一体式探头包括PCB板，安装在所述PCB板上的补偿电路，安装在所述PCB板一端的探测针，安装在所述PCB板另一端的固定针，覆盖在所述PCB板和所述补偿电路上的前端绝缘层，安装在所述探测针的中部的探测针绝缘塞，安装在所述固定针的中部的固定针绝缘塞，在所述前端绝缘层与所述探测针绝缘塞及所述固定针绝缘塞的外部套有金属屏蔽管，其特征在于，所述前端绝缘层与所述探测针绝缘塞及所述固定针绝缘塞紧密连接，所述前端绝缘层是注塑包胶层。

8.根据权利要求7所述的测试测量仪器，其特征在于，所述探测针绝缘塞、所述固定针绝缘塞及所述注塑包胶层是直径相同的圆柱形结构，所述金属屏蔽管的内壁为圆柱形结构，所述金属屏蔽管的内壁与所述探测针绝缘塞、所述固定针绝缘塞及所述注塑包胶层相接触。

9.根据权利要求8所述的测试测量仪器，其特征在于，所述金属屏蔽管包括前管和尾管两部分，所述探测针绝缘塞的靠近探测针的针尖一侧还接有一个直径小于所述探测针绝缘塞的直径的圆柱形第二绝缘体；所述金属屏蔽管的尾管的内壁与所述探测针绝缘塞、所述固定针绝缘塞及所述注塑包胶层相接触，所述金属屏蔽管的前管的内壁与所述第二绝缘体相接触。

10.根据权利要求9所述的测试测量仪器，其特征在于，所述金属屏蔽管的前管的长度与所述第二绝缘体的长度相同。

11.根据权利要求7、8、9或10所述的测试测量仪器，其特征在于，所述注塑包胶层具有至少一个定位孔，所述定位孔为中空结构，由所述注塑包胶层的外表面垂直延伸至所述PCB板的一个表面上。

12.根据权利要求7、8、9或10所述的测试测量仪器，其特征在于，所述注塑包胶层具有至少一个上定位孔和至少一个下定位孔，所述上定位孔和所述下定位孔均为中空结构，所述上定位孔由所述注塑包胶层的外表面垂直延伸至所述PCB板的一个表面上，所述下定位孔由所述注塑包胶层的外表面垂直延伸至所述PCB板的另一个表面上。