[发明专利]色谱质谱分析用数据处理系统有效

专利信息
申请号: 201310150866.6 申请日: 2013-04-26
公开(公告)号: CN103376299A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 川濑智裕 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N30/86 分类号: G01N30/86
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 色谱 谱分析 数据处理系统
【权利要求书】:

1.一种色谱质谱分析用数据处理系统,用于通过对色谱四极型质谱仪重复收集到的数据进行处理来创建色谱图,其中所述色谱四极型质谱仪能够针对与时间轴上连续地或不连续地设置的多个时间范围相对应的各区段设置质谱测量条件,所述色谱质谱分析用数据处理系统包括:

a)存储器,用于针对各区段存储被指定为质谱测量条件的参数值;

b)判断器,用于从所述存储器检索针对连续配置的两个区段中的各区段的预定的参数值,并且判断检索到的参数值是否一致;以及

c)色谱图创建处理器,用于在所述判断器判断为检索到的参数值一致的情况下,通过将基于相应的测量条件下针对所述两个区段中的各区段所收集到的数据的部分色谱图相连结来创建色谱图。

2.根据权利要求1所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,

所述存储器针对各区段保持被指定为质谱测量条件的测量模式和参数值,

所述判断器判断针对所述两个区段的测量模式和预定的参数值是否一致,以及

在测量模式一致并且参数值也一致的情况下,所述色谱图创建处理器将所述部分色谱图相连结。

3.根据权利要求1所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,还包括指定部,所述指定部用于使得操作员能够指定需要显示色谱图的质量电荷比、质量电荷比范围或目标化合物,

其中,所述判断器判断所显示的经由所述指定部针对所述两个区段所指定的质量电荷比、质量电荷比范围或目标化合物是否一致,并且判断与所述两个区段相对应的预定的参数值是否一致,以及

在参数值一致并且所显示的质量电荷比、质量电荷比范围或目标化合物也一致的情况下,所述色谱图创建处理器将所述部分色谱图相连结。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,

所述色谱四极型质谱仪是包括由碰撞池分离开的第一四极滤质器和第二四极滤质器的色谱串联四极型质谱仪,以及

所述参数值是所述第一四极滤质器和所述第二四极滤质器其中的一个滤质器在Q1SIM模式、Q3SIM模式和MRM模式其中一个模式下所选择的离子的质量电荷比的值,其中:在所述Q1SIM模式中,所述第一四极滤质器根据离子的质量电荷比来选择离子,而不进行所述碰撞池内的离子解离以及所述第二四极滤质器的离子选择;在所述Q3SIM模式中,不进行所述第一四极滤质器的离子选择以及所述碰撞池内的离子解离,而所述第二四极滤质器根据离子的质量电荷比来选择离子;以及在所述MRM模式中,所述第一四极滤质器根据离子的质量电荷比来选择离子,使所选择的离子在所述碰撞池内发生解离,并且所述第一四极滤质器和/或所述第二四极滤质器根据离子的质量电荷比来选择通过解离所产生的产物离子。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,

所述色谱四极型质谱仪是包括由碰撞池分离开的第一四极滤质器和第二四极滤质器的色谱串联四极型质谱仪,以及

所述参数值是所述第二四极滤质器在前体离子扫描模式中要选择的离子的质量电荷比的值。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,

所述色谱四极型质谱仪是包括由碰撞池分离开的第一四极滤质器和第二四极滤质器的色谱串联四极型质谱仪,以及

所述参数值是所述第一四极滤质器在产物离子扫描模式中要选择的离子的质量电荷比的值。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,

所述色谱四极型质谱仪是包括由碰撞池分离开的第一四极滤质器和第二四极滤质器的色谱串联四极型质谱仪,以及

所述参数值是中性丢失扫描模式中、与所述第一四极滤质器所选择的离子的质量电荷比和所述第二四极滤质器所选择的离子的质量电荷比之间的差相对应的中性丢失值。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,

预定的所述参数值是所述色谱四极型质谱仪中所包括的四极质谱仪在包括预定的质量电荷比范围的质量扫描的测量模式中要扫描的质量电荷比范围。

9.根据权利要求1至3中任一项所述的色谱质谱分析用数据处理系统,其中,

预定的所述参数值是SIM模式中的目标离子的质量电荷比,其中在所述SIM模式中,在所述色谱四极型质谱仪中所包括的四极质谱仪中对所选择的一个质量电荷比或顺次选择的多个质量电荷比进行测量。

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