[发明专利]一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统

权利要求书

1.一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统，其特征在于：包括服务器（1），所述服务器（1）通过TCP/IP1000M以太网连接工业控制模块（2），所述工业控制模块（2）通过LVDS低压差分接口连接10-100个激光器控制系统模块（3），所述激光器控制系统模块（3）连接散热系统（7），所述激光器控制系统模块（3）包括电流驱动模块（4），所述电流驱动模块（4）连接激光器夹具（5）和系统控制及数据采集模块（6）。

2.根据权利要求1所述的QCW半导体激光器老化寿命测试系统，其特征在于：所述系统控制及数据采集模块（6）的四角安装有电路板安装孔（22），左侧安装有LVDS接口（26），下端依次安装有QCW电源驱动串行控制接口（25）、8位拨码开关（23）、温度采集控制接口（24），上端设置有电压功率信号传输排线（27），中间设置有微处理器（13），通过所述8位拨码开关（23）的状态设置模块的地址，所述温度采集控制接口（24）实现对多路温度的测量和控制，所述电压功率信号传输排线（27）将激光器（16）两端电压差和功率转换后的电压信号引出到所述激光器夹具（5）上安装的光电转换电路板，所述温度采集控制接口（24）测量所述激光器（16）正下方铜基（15）的温度。

3.根据权利要求1所述的QCW半导体激光器老化寿命测试系统，其特征在于：所述激光器夹具（5）上设置有用于安装半导体激光器的铜基（15）、积分球阵列（8）、复位开关和光电转换电路板，所述复位开关连接控制电路板，所述积分球阵列（8）上均匀地设置有10个积分球（21），所述铜基（15）上均匀地以电流串联的方式安装有激光器（16），所述激光器（16）发出的光射入所述积分球（21）内，所述铜基（15）和所述积分球阵列（8）通过循环水进行冷却。